X-RAY 材料无卤ROHS测试仪 天瑞
价格:电议
地区:广东省 深圳市
电 话:13922801651
手 机:13922801651
传 真:0755-61351275

深圳材料无卤ROHS测试仪 


目前对于不同的电子材料,元件,板材等,业界主要还是各家公司自己的具体要求来执行。现在有两种讲法对于无卤素,1.BSEN14582测试方法,这种根本测不出(<50ppm)的CI,Br;2. CI,Br含量各低于900ppm,总含量低于1500ppm。但JPCA没有对总含量定义。有些公司定义的测试方法及测试样品的选取都有不同,样品数量太少的话,导致测试结果会有很大偏差。也有分产品中含有的卤素是刻意添加(配方中的成分)及非刻意添加(杂质)?这些具体的要求,目前法规还没有明确定义,都是由各个厂家自己要求确定。
各标准组织的测试方法如下,
BSEN14582 分方法A 氧弹燃烧法Oxygen Bomb combustion + 离子层析法(Ion chromatography) 方法B 氧瓶燃烧法Oxygen flask combustion + 离子层析法(Ion chromatography) 
JPCA-ES-01-2003 方法为氧瓶燃烧法Oxygen flask combustion + 离子层析法(Ion chromatography) 
IEC61189-2 方法为氧瓶燃烧法Oxygen flask combustion + 离子层析法(Ion chromatography) 
IPC-TM-650 方法 2.3.41 方法为氧瓶燃烧法Oxygen flask combustion + 离子层析法(Ion chromatography)
传统只是对卤化物有定义要求,采用铬酸银试纸,氟点测试等方法检测只是对卤化物的离子进行定性的测试方法,如果要定量的话还得用离子层析法(Ion chromatography)。
无卤素与无卤化物不是一个概念,卤化物是以游离的卤素离子存在,而卤素则可以共价的方式形成含有卤素的化合物,并且用离子层析法(Ion chromatography)是测不到游离的卤素离子存在的。所以,目前的卤素测试方法用氧弹燃烧法Oxygen Bomb combustion 或氧瓶燃烧法Oxygen flask combustion 的方法把待测样品共价存在的卤素破坏原先的结构,使其变为游离的离子形态的卤素,可以被离子层析法(Ion chromatography) 检测到。这样不管以何种形式存在的卤素都可以被检测到。


以上为卤素标准推荐采用的测试方法;目前rohs测试主要是参考IEC62321文件来进行的,IEC62321文件里面列出了rohs里面各种元素的测试方法,及XRF在rohs中的作用,并且注明了XRF测试结果如何判定是否符合标准,目前电子电器行业对于Cl,Br的测试是参考IEC62321文件来进行的,判断其结果是否符合标准也是按照此文件内的30%的偏差来判断的。


标准配置

高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
钢铁行业测试专用配件
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构,力度可靠的保证
90mm×70mm的液晶屏
真空泵

性能参数

产品型号:EDX 4500
产品名称:X荧光光谱仪
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)
同时分析元素:性可测几十种元素
测量时间:60秒-200秒
探测器能量分辨率为:145±5eV
管压:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
测量对象状态:粉末、固体、液体
输入电压:AC 110V/220V
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:35%-70%
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
样品腔体积:Φ320mm×100mm
重量:65Kg
QQ截图20170526084635.jpg性能特点

高效超薄窗X光管,指标达到国际先进水平
新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比
低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然