正业金相显微镜 IC元件测量

正业IC元件金相显微镜适用于IC元件、金相切片等微小尺寸的测量及分析。

正业金相显微镜特点：

 1、合理优化光路设计

 2、成像；

 3、自主开发软件，

 4、可根据客户的要求定制软件功能；

 3、软件易学易用，可轻松实现点到点、线到线、圆弧、半径、直径、角度等条件的测量与分析。

正业金相显微镜参数：