SCI广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。

应用领域 半导体、微电子、MEMS、通讯、数据存储、光学镀膜、平板显示器、科学研究、物理、化学、生物、医药等 测量材料 半导体、介电材料、有机高分子聚合物、金属氧化物、金属钝化膜、自组装单分子层、多层膜物质和石墨烯等

1)Film Wizard 软件 : 市面上功能强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。

2) FilmTek 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求.

1.多层厚度（1到 250 microns）

2.折射率n

3.吸收系数k

4.双折射率

5.能隙（Eg）

6.表面粗糙度和损伤

7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式）

8.薄膜温度特性

9.晶元曲率和薄膜耐压性

技术参数

1.厚度测试范围: 1? to 250 microns

2. 重复性：± 0°（△）

3. 折射率：± 2*10-5

4. 光谱范围:380nm~1000nm（190nm~1700nm可选）

5. 入射角:0°（70°可选）

6. 测试速度：小于 15 s

7. 光斑直径：    小于 50 nm