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   详细说明：
     多波长的测温方法


         应用辐射测温法测量实体表面温度的主要问题在于由未知或者变化的表面发射系数而引起的大误差。本文只利用表面散发热辐射的技术来讨论这类技术所需额外信息的本质。多波长测温需要在不同的波长下进行，这种方法通常用于解决附加信息没有被分析的问题，但是这种方法也的缺点。

          在辐射测温法进行温度测量时，需要在量程范围内校准，才能获得准确测量温度，由于使用新仪器和技术，在800℃-1500℃的温度区间内的总不确定度已经减少了好几个百分点，在国际实用温标中，银的熔点定义为961.93℃时，这种改进就是光电检测法可以很好地替代热电偶。然而在辐射法测温的工业应用中，由于很多因素，它的不确定性通常要大一些。其主要原因是要求热辐射源是理想的黑体，这在很多工业的实际应用中很难做到。因此，主要测量的不确定度来源于辐射表面未知的辐射系数。

         由于我们需要在高温下或者测试目标的物理接触不合需求时，准确地测量温度，所以辐射测温法在技术上的方向主要是减少由未知真实表面发射率引起的错误。技术研究分成两个主要方面。目前，为了获得有关于表面辐射系数的信息，我们采用额外的单色光源或者额外的热辐射。用这种手段修正测量温度然而，这些额外的需求使得结构的设计更加复杂，而且缺乏适应不同应用的灵。原则上讲，更简单的方法是将信息和表面测试过程一起去修正温度。近的研究表明根据辐射的特性来计算温度是可行的，这需要若干个波长的单独测量。

     

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