美国进口 TSI光学颗粒物粒径谱仪

美国进口 TSI光学颗粒物粒径谱仪

美国进口 TSI光学颗粒物粒径谱仪

产品简介：

3330型光学颗粒物粒径谱仪简单轻便，能够对颗粒物浓度和粒径谱分布进行快速和准确的测量。基于TSI40年气溶胶仪器设计的经验，本款产品使用120度光散射角收集散射光强度和精密的电子处理系统，从而得到高质量和高的数据。同时，TSI工厂严格的标定标准也确保仪器的性。3330不仅可以单独使用，而且还可以放入TSI的外场环境箱中在野外使用。

产品参数：

测量原则 ：

120°光散射和滤膜采样

浓度限制：

3,000个/ cm3 （3,000,000个/L）

质量浓度 ：

0.001-275,000 mg/m3

颗粒物粒径：

检测粒径范围：0.3-10μm

粒径分辨率 ：0.5mm时5%（符合ISO 21501-01/04）

粒径通道 ：多16通道，用户可调