一、产品用途

  半导体冷热循环冲击试验机又称为高低温冲击试验箱、冷热交变试验箱，本设备适用于各类电工电子产品及其他产品、零部件和材料进行高低温恒定和各种温度冲击及温度变化的可靠性试验。冷热冲击试验机该产品适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。高低温冲击试验箱是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试设备，考核和确定电工、电子、汽车电器、材料等产品，在进行高低温试验的温度环境冲击变化后的参数及性能，使用的适应性，适用于学校，工厂，研位，等单位。

二、半导体冷热循环冲击试验机技术参数

1、内部尺寸： 40*35*35cm~80*80*75cm(W*H*D)
2、外部尺寸： 140*185*145cm~190*227*221cm(W*H*D)
3、测试去温度设定范围：150℃～（B:-40℃;C:-55℃;D:-65℃）(高温区：+60℃~+150℃；低温区：-10℃~-70℃)
4、高温区温度升温时间：RT～150℃约35min；
5、低温区温度降温时间：RT～-70℃约55min；
6、试验方式：试验时待测物在高温槽与低温槽之间移动转换，实现冷热冲击测试目的
8、温度控制度： ±0.5℃±2.0%℃(依量测规范:量测SENSOR置放点,离内箱壁内尺寸1/10处)
9、温度回复时间：≦5分钟/5≦5秒
10、试样限制：本实验设备禁止易燃、爆炸、易挥发性物质试样的试验或储存；腐蚀性物质试样的试验或储存；生物试样的试验或储存；强电磁发射源试样的试验或储存。

三、半导体冷热循环冲击试验机制冷系统

制冷系统及压缩机：为了保证试验箱降温速率和zui低温度的要求，本试验箱采用一套进口法国全封闭压缩机所组成的二元复叠式风冷制冷系统。复叠式冷 系统包含一个高温制冷循环和一个低温制冷循环，其连接容器为蒸发冷凝器，蒸发冷凝器是也到能量传递的作用，将工作室内热能通过两级制冷系统传递出去，实现隆温的目的。制冷系统的设计应用能量调节技术，一种行之有效的处理方式既能保证在制冷机组正常运行的情况下又能对制冷系统的能耗及制冷量进行有效的调节，使制冷系统的运行费用和故障率下降到较为经济的状态。
是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业必备的测试设备，主要用于测试产品在高温、低温瞬间变化的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能。内部有三个区：高低区、低温区、测试区，高温区负责蓄热，低温区负蓄冷，测试区则放测试物进行测试。

四、半导体冷热循环冲击试验机执行与满足标准

1、GB/T2423.1-2001低温试验方法；
2、GB/T2423.2-2001；
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N；
4、GJB150.3-86；
5、GJB150.4-86；
6、GJB150.5-86；
7、GJB150.5-86温度冲击试验；
8、GJB360.7-87温度冲击试验；
9、GJB367.2-87 405温度冲击试验；
10、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱—一箱式；
11、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱—二箱式；
12、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化；
13、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则；
14、GB/T 2423.22-2002温度变化；
15、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则；
16、EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。