双电测四探针电阻率测试仪  型号：  341

本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购. 
双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。 双电测四探针电阻率测试仪 提供中文或英文两种语言操作界面选择，满足国内及国外客户需求 
广泛用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试 
硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻  半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率  导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等 
参数资料 双电测四探针电阻率测试仪 1.方块电阻范围：10-5～2×105Ω/□ 
2.电阻率范围：10-6～2×106Ω-cm 
3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA 
4.电流：±0.1%读数 
5.电阻：≤0.3% 
6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率 
7.测试方式: 双电测量 
8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W 
9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果） 
10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台 
11.测试探头：  探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针

双电测四探针电阻率测试仪 

中型冷冻干燥机型号：FD-8  
仪器说明  

    真空冷冻干燥技术，简称冻干，又称升华干燥。广泛应用于药品、生物制品、化工及食品工业。对热敏性物质如抗生素、疫苗、血液制品、酶激素及其他生物组织，冻干技术非常适用。 
产品分装到容器有一定的表面积与厚度之比。表面积要大一些，厚度要小些。表面积大有利于升华，一般分装厚度不大于10mm为佳。 
本机体积小，功能全，操作简单，经济实用，适用于散装物料生产。 
主要特点 
● 进口全封闭制冷机组，捕水能力强； 
● 采用风冷散热方式，不需水循环冷却；  
● 冷阱为全不锈钢结构，可作样品预冻。整机符合GMP标准； 
● 真空连接采用通用标准件，方便可靠； 
● 温度时间程序控制，整个样品升华过程实现自动控温； 
● 每层样品独立测温和控制，三重温控保护，确保样品安全。 
● 加热元件采用特殊材料制成，热惯性小，温度均匀； 
● FD-8为普通型，适用于散装物料生产。 

技术指标 
 冷凝温度 -45℃  
   空载真空度 13Pa  
冻干面积  0.8㎡ 
  物料盘mm  Φ370 
  捕水能力  15kg/24h 
物料层数   7 
电源要求380V 50Hz 3KW 

主机尺寸1250×660×800(+1000+515)