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电阻率方块电阻测试仪
本方阻测试新产品为薄膜测试提供机械、电气两方面的保护,在宽广的量程范围内,使各种电子薄膜能得到准确、无损的方块电阻测量结果。
由于新型薄膜材料种类繁多,研制过程中样品性能变化较大,而且各种薄膜的机械强度,允许承受的电压、电流均不相同,因此KDB-1型测试仪可为用户量身定制各种特定探针压力及曲率半径的探针头,仪器的测试电流分7档,可由0.4μA增加到大为1000mA,测试电压可由8V增加到80V,测试电压和测试电流均可连续调节,给薄膜、涂层的研制者提供了一个摸索测试条件的宽阔空间。
由于仪器设有恒流源开关,并且所有电流档在探针与样品接触后均有电流延时接通的功能,充分保护了样品表面不会因为探针接触时产生的电火花而受到损坏。
仪器性能 电阻率方块电阻测试仪 方阻测量范围:1×10-5~2×106Ω/□,小分辨率1×10-5Ω/□;
电阻率测量范围:1×10-6~2×105Ω·cm或1×10-8~2×103Ω·m,小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m;
探针压力:25g~250g;
探针曲率半径:25μm~450μm
(注:探针压力及曲率半径可根据薄膜材料性能及用户需求定制);
测试电流分7档:1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA;
测试电压:(1μA~10 mA档)12~80V连续可调
(100mA档) 8~36V连续可调
(1000mA档) 8~15V连续可调;
测量方式:手动或自动(配置专用测试软件);
测量对象:导电薄膜、半导体薄膜、电力电容器铝箔、各种金属箔、银浆涂层、锂电池隔膜等各种新型电子薄膜;各种半导体材料的电阻率。
电阻率方块电阻测试仪
电阻率方块电阻测试仪
产品名称:单目生物显微镜 产品型号:XSP-1C |
单目生物显微镜 型号:XSP-1C
一、仪器简介:
此款显微镜其以单目四孔转换可放大至40-1600倍,具有功能齐全,成像清晰,性价比高等优点。适合于做人体三大常规化验以及农、林、渔养殖业等小型单位做分析化验。总放大倍数:40-1600X
二、功能与特点:
1、传统机型,质量稳定,性价比高。
2、采用可升降阿贝聚光镜,聚光调节范围大,衬度好。
3、采用行星式同轴粗微动调焦装置,调焦舒适平稳。
4、采用带有刻度标尺的双层机械载物台,同轴纵横向调节手轮,操作更灵便。
三仪器参数:
1平场目镜:WF10X/ф18mm WF16X/ф11mm
2消色差物镜: 4X/0.10、10X/0.25、40X/0.65(弹簧)、100X/1.25(油、弹簧)
3总放大倍数:40X-1600X
4观察头:铰链式45°倾斜 可360°旋转
5转换器:四孔(内向式滚珠位)
6粗微调调焦范围:20mm微动格值:2um 粗微动同轴调焦,粗动松紧可调,带锁紧和限位
7载物台:单层移动平台尺寸110X110mm 移动范围 60X20mm 游标格值0.1mm
8机械筒长:160mm
9光瞳距离:55-75mm
10聚光镜:1.25NA阿贝聚光镜,可变光栏带滤色片(上下升降)
11照明:220V卤素灯 卤钨灯泡 6V12W
12仪器重量:净重2.4公斤 毛重3.8公斤
13仪器尺寸:仪器尺寸22X36X36.5(cm) 包装尺寸33.5X28X59(cm)
产品名称:紫外线强度检测仪 产品型号:UV4 |
紫外线强度检测仪 型号:UV4
技术参数
测量范围:0~19999uW/
测量:±(0.2%FS±1个字)
输入规格:0~5VDC
输出规格:双路继电器无源开关点输出
继电器无源开关点输出:250VAC 1A/30VDC 1A(阻性负载)
显示方式:双排4位LED数字显示
电源:85~265VAC 50/60Hz
功耗:≤5W
安装方式:面板式
外观尺寸48mm*48mm*97mm
开孔尺寸:45mm*45mm
重量:320g
环境温度:0~+50℃
环境湿度:35~85%RH