用于实时数字系统分析的突破性解决方案

模块化 TLA7000 逻辑分析仪系列为当今快的微处理器和内存设计提供了捕获逻辑细节所需的速度和灵活性。只需一只探头，即可定位难检错误的源头，获得方便易读大显示器所具备的可视性、快速的数据吞吐量以及模拟和数字信号的时间相关视图。

TLA7000 逻辑分析仪主要特点和优点

　　● 68/102/136通道逻辑分析仪模块，记录长度每通道512Mb

　　● MagniVuTM 高定时采集技术提供20ps(50GHz)的时序分析，快速寻找和测量瞬变的定时问题

　　● 支持156ps(6.4GHz)/512Mb 长度的定时分析

　　● 同步采集数据有效窗口180ps，支持1.4GHz 以及3.0Gbps 数据的高性能状态分析

　　● 毛刺和建立时间/ 保持时间违规触发帮助寻找瞬变的硬件问题

　　● 跳变存储(Transitional Storage)为低占空比信号扩展捕获分析的捕获时间长度

　　● 通过同一个探头对信号的探测，同时完成定时、状态以及模拟信号的分析

　　● 高密度探头系统仅有0.5pF的负载，无需在板级提供连接器，小化对电路的负载，是高速差分信号非常理想的探测方法

　　● 通过观察时间相关的数据、丰富的数据显示格式，从问题的症状追踪到问题产生的根源

　　● PCI Express Gen1 - Gen3，包括Gen3 协议，进行物理层分析，支持x1 - x16 的链路宽度，采集速率高达8.0 GT/s，高达16 GB 的深存储 (适用于x16 链路)

　　● 完善的PCI Express 探测解决方案，包括中间总线、插槽内插器和焊接式连接器

　　● 模块化的主机结构，提供的灵活性和可扩展性

　　● 多支持6,528 条逻辑分析通道，48 条独立总线

　　● 丰富全面的微处理器和总线解码解释

TLA7000 逻辑分析仪的应用

　　● FPGA 调试和验证

　　● MIPI 协议分析

　　● DDR2 和DDR3 调试和验证

　　● 信号完整性分析

　　● 从协议层到物理层，进行PCI Express 调试

　　   - 芯片级验证

　   　- 计算机系统验证

　   　- 嵌入式系统调试和验证

　　● 微处理器/ 总线调试和验证

　　● 嵌入式软件集成、调试和验证

　　泰克提供突破性的数字系统的分析工具，使数字硬件和软件设计人员的捕获和分析的难以捕捉的，威胁产品开发时间表故障。TLA7000系列提供您需要捕捉异常的速度，加上对数据完整的、丰富的、直观的显示以及快速的数据吞吐量，同时系列模块的兼容性保护您的投资。

　　TLA7012 和TLA7016 主机

　　TLA7012便携式主机和TLA7016台式主机都是模块化主机，支持TLA 逻辑分析仪和码型发生器模块。TLA7012 和TLA7016可以配置主或扩展主机，为满足大量的总线和高通道数量要求提供解决方案。

　　配有T L A P C 1 台式机控制器的T L A 7 0 1 6 台式主机和基于Microsoft Windows XP rofessional PC 平台的TLA7012 便携式主机，为TLA 应用软件提供了用户熟悉的工作环境，提供了多部显示器功能，扩大了桌面查看能力，另外还提供了内置DVD-RW、硬驱和多个USB2.0 端口，可以扩容。这两种主机都标配可以更换的硬盘，提供了理想的安全解决方案，或使得各个团队成员可以存储个人设置和数据。触发输入/ 输出连接为其它外部仪器提供了一个接口，如DPO 示波器，以关联测量结果。

　　P6800 系列和P6900 系列探头

　　没有探头的测试和测量解决方案是不完整。P6800和P6900系列逻辑分析仪探头提供业内电容负载，保护您的被测信号的完整性- 这对于像DDR2、DDR3 这类要求低侵入式设计很严格的总线是非常关键的。该系列探头提供了单端、差分探头和各种附件连接方式的选择，包括“ connectorless ” 压缩连接，无需板级内建连接器插座。应用电路板的空间越来越变得珍贵，采用了D-Max?技术的高密度P6900系列提供了业界小的可用封装。对于调试高速总线上的信号完整性故障，P6900 系列探头与TLA7BBx 和TLA7ACx 模块的iLinkTM 工具集一起提供iCaptureTM 同步数字模拟采集。这样，您就可以清楚地看到时间相关的数字和模拟行为的设计，而无需考虑用两个探头探测所带来的额外的电容负载和安装时间。

　　信号完整性对差分信号的探测是至关重要的，高保真度的P6980 和P6982 非常适合要求噪声性能的应用。此外，P6980和P6982可以支持小电压摆幅差分信号的探测。P6962DBL配合TLA7000 系列逻辑分析仪与TLA7BBx 模块，支持数据率高达1600Mbps的DDR3内存的数字验证和调试。对不需要高密探测点的电路板设计的，P6960 配合前端飞线适配器，提供所需的灵活性，以满足许多不同的调试需求。

　　适用于PCI Express 的P6700 系列探头

　　P6700 系列探头为验证工程师提供了一套完善的PCI Express探测解决方案，包括中间总线、插槽内插器和焊接式连接器。这些探头使用两个连接器，支持长达24 英寸的PCI Gen3 通道，提供了小的电气负荷及的信号保真度和有源均衡技术，保证准确恢复闭上的眼图数据。所有P6700系列探头都带有图形通路搅拌功能，提供了的灵活性，可以支持独特的电路板布线。

　　TLA7ACx 和TLA7BBx 模块

　　为了加快产品推向市场，今天的数字设计的工程师每天都面临巨大的压力。TLA7ACx 和TLA7Bxx 系列逻辑分析仪模块为整个设计团队提供了突破性的解决方案，提供了快速监测、捕获和实时分析数字系统运行的能力，以便调试，验证，优化和验证数字系统。硬件开发人员、硬件/ 软件集成商、嵌入式软件开发者将喜爱TLA7ACx和TLA7BBx系列逻辑分析仪模块在多个领域中的所表现出的强大的功能，包括：捕捉和相关的瞬变易失的硬件和软件故障;同一探头完成状态、高定时和模拟信号的同时测试;使用深状态分析寻找复杂问题的原因;实时、非侵入式的软件执行追踪相关源代码和硬件事件;非侵入无连接式(connectorless)探测技术。

　　泰克TLA7BBx 系列逻辑分析仪模块提供了突破性的MagniVuTM技术，实现了高速采样(高达50 GHz)，明显改变了逻辑分析仪的工作方式，提供了全新的测量功能。TLA7BBx模块通过同一套探头提供了高速状态同步捕获、高速定时捕获和模拟捕获功能。它们利用泰克的MagniVu 技术，在所有通道上提供了高达20 ps 的定时、毛刺和建立时间/ 保持时间违规触发及分辨率一直高达20 ps 的显示和时间标记。

　　为配合高性能的逻辑分析仪模块， TLA7ACx系列逻辑分析仪模块提供所有相同的调试与验证功能，但性能水平更适合于嵌入式应用设计。TLA7ACx 模块提供了通过同一套探头进行高速状态同步捕获、高速定时捕获和模拟捕获的功能。 通过MagniVu 模式的技术，提供对每通道高达125 ps 的时间分辨率，毛刺和建立/ 保持时间违规触发及分辨率一直高达125ps的显示和时间标记。

　　PCI Express 3.0给验证工程师带来了新的挑战。产品开发周期压力需要一种能够迅速查明问题的解决方案。TLA7SAxx 系列逻辑协议分析仪模块提供了一种创新方法，可以验证PCI Express从物理层到事务层的所有协议层。

　　我们业内的硬件加速技术实现了快速显示更新功能，可以在短短几秒钟内查看和搜索高达16 GB的深存储器，缩短获得信息所需的时间。由于改善了信息密度，您可以使用SummaryProfile 窗口迅速确定系统的健康状况，识别关心的码型(误码、特定事务、有序集合、等等)及统计数据。您可以在一个创新的Transaction窗口中，与物理层活动交错观看数据包级和事务级协议特点。独特的Listing 窗口按通路显示符号级数据包细节，使您能够进一步了解物理层细节，并在Waveform 窗口中观察与高带宽示波器提供的模拟波形相关的各路活动。

　　硬件开发人员、硬件/ 软件集成人员以及嵌入式系统设计人员非常青睐这些模块与泰克逻辑协议分析仪的紧密集成能力。您可以在显示画面上，观察完整的系统交互，并实现时间相关多总线分析。交叉触发和公共全局时间标记可以显示一条总线在任意时点上相对于另一条总线发生的具体情况，准确高效地进行调试。配以P6700系列探测解决方案，工程师们在平台探测方法上获得了更灵活的选择。

TLA7012 和TLA7016 特点

一般特点

TLA7012 和TLA7016 仪器外部接口

电源