镀层厚度荧光检测仪
价格:198000.00
地区:江苏省 苏州市
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软件优势

                                    

仪器采用天瑞软件研发团队研发的能量色散X荧光FpThick软件,先进的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作。谱图区域采用动态模式,测试时元素观察更直观。

软件具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。


参数规格


1   分析元素范围:S-U2   同时可分析多达5层以上镀层3   分析厚度检出限达0.005μm4   多次测量重复性可达0.01μm5   定位:0.1mm6   测量时间:30s-300s7   计数率:1300-8000cps8    X/Y平台可移动行程:50mm(W)×50mm(D) 

性能特点


1.满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求2.φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求,可以对同一镀件不同部位测试厚度3.高移动平台可定位测试点,重复定位小于0.005mm4.采用高度定位激光,可自动定位测试高度5.定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐6.鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点7.高分辨率探头使分析结果更加精准8.良好的射线屏蔽作用9.测试口高度敏感性传感器保护 

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测试实例


镀层厚度荧光检测仪镀镍器件是比较常见的电镀器件,其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。
以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度,七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试,其测试位置如图。 结论

实验表明,使用Thick800A 仪器对镀件膜厚测试,结果准确度高,速度快(几十秒),其测试效果完全可以和显微镜测试法媲美。

镀层厚度测试方法一般有以下几种方法:1.光学显微镜法。适用标准为:GB/T6462-20052.X-ray法(X射线法)。适用标准为:GB/T16921-2005

3.库仑法,此法一般为仲裁方法。适用标准为:GB/T4955-2005

Thick800A镀层厚度荧光检测仪是天瑞仪器销量的镀层测厚仪;仪器采用上照式结构,测试,软件界面简洁,测试样品用时40S,售后服务可靠及时。


仪器配置

                                            

1    镀层厚度荧光检测仪硬件:主机壹台,含下列主要部件: ①X光管                    ②半导体探测器③放大电路                  ④高样品移动平台⑤高清晰摄像头             ⑥高压系统⑦上照、开放式样品腔        ⑧双激光定位⑨玻璃屏蔽罩2   软件:天瑞X射线rel="nofollow" 荧光光谱仪FpThick分析软件V1.03   计算机、打印机各一台计算机(品牌,P4,液晶显示屏)、打印机(佳能,彩色喷墨打印机)4   资料:使用说明书(包括软件操作说明书和硬件使用说明书)、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。5   标准附件准直孔:0.1X1.0mm(已内置于仪器中)


测量标准


1.国标GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000 金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法


应用行业


1.镀层厚度荧光检测仪电子半导体行业接插件和触点的厚度测量2.印刷线路板行业功能镀层厚度测量3.贵金属首饰手表行业镀层厚度测量

4.五金电镀行业各种防腐性、装饰性及功能镀层厚度测量


分析原理


仪器采用XRF光谱分析技术,X光管产生的X射线打到被测样品时可以击出原子的内层电子,出现壳层空穴,当外层电子从高轨道跃迁到低能轨道来填充轨道空穴时,就会产生特征X射线。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特征信息。

 


 厂家介绍 

江苏天瑞仪器股份有限公司是国内早研发生产X荧光光谱仪的厂家,分析仪器上市企业,在X荧光领域,率先打破了国外(日本岛津,精工,美国热电,英国牛津,德国费希尔等)垄断局面,近几年在市场上的占有率越来越高,产品质量及售后服务是我们的优势,维护方便及时,成本低廉,为客户提供360度服务。

江苏天瑞仪器股份有限公司是生产ROHS测试仪,液相色谱质谱仪(LCMS),X荧光镀层测厚仪,x射线测厚仪,手持式ROHS光谱仪,ROHS检测设备,X射线镀层测厚仪,气相色谱仪,EDX1800B,ROHS检测仪,首先ROHS检测仪厂家,ICP光谱分析仪,液相色谱仪,EDX1800E,ROHS2.0新增4项分析仪,EDX2800,手持式矿石分析仪,双酚A检测仪,X射线荧光光谱仪,镀层厚度荧光检测仪,大米重金属快速检测仪,汽油中硅含量检测仪,ROHS检测仪器,餐具镀层测厚仪,ROHS2.0检测仪,EDX1800BH,电感耦合等离子体光谱仪,ICP等离子光谱仪,EDX1800BS,气相色谱质谱联用仪(GCMS),EDX1800, ROHS仪器,手持式合金分析仪等分析仪器,涉及的仪器设备主要有Thick 8000、Thick800A、EDX600、AAS 9000、AAS 8000等。

天瑞仪器将以“行业技术”的姿态,不断探究世界分析领域的。为客户提供更加先进的产品和更加满意的服务。


企业类型

制造商

新旧程度

全新

原产地

江苏省苏州昆山市中华园西路1888号

测试平台:

精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。

探测器:

Si-Pin探测器

工作原理:

利用x射线对金属表面进行激发,检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器

准直器大小:

φ0.1mm的小孔准直器

温度要求:

15℃至30℃。

电源:

交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源

外观尺寸:

576(W)×495(D)×545(H) mm