◆ 功能齐全,操作简易,用途广泛的Zeta-20 |
ZDotTM技术擅于对高粗糙度、低反射率的表面进行成像分析 |
·具有防反射涂层的太阳能电池片 ·图形化/蚀刻的LED基板 ·生物微机电、微机电系统和微流体槽 ·透明的多表面样品成像 |
快速获取数据 |
·可配置快于10秒扫一幅三维图像的采集速度 ·简明易学的软件操作界面 |
强大的三维分析功能 |
·台阶高度、粗糙度、面积、体积、角度及其它表面属性 ·数据输出格式与常见的第三方分析软件可兼容 |
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◆ 高度的灵活性 |
测量复杂的表面特征 | 从深槽到金刚石钢线,光学轮廓仪Zeta-20强大的成像能力可对各种复杂表面进行测量。通常这些表面由于太粗糙、太暗或是坡度太陡而无法用其它设备测量。 | 选项配置齐全 | 在科研过程中所涉及的样品表面类型往往难以预测。因此,光学轮廓仪Zeta-20使用模块化设计理念,为用户提供了一系列的硬件和软件选项来满足各种不同的测量需求。 ·薄膜厚度光谱仪 ·可测量纳米级粗糙度的QDIC/Nomarski选项 ·iX5干涉物镜 ·Z轴分辨率高达2nm的压电陶瓷载台 ·倾斜载台和真空吸附卡具 ·自动特征提取和测量软件 ·自动表面面积测量、统计分析 ...以及其它众多选项! |
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