FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪
价格:电议
地区:浙江省 宁波市

FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪

FT-331  common four probe resistance ratio test instrument

 

 

一.描述Description:

采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,提供通讯接口,PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.

二.参照标准standard:

硅片电阻率测量的标准(ASTM F84)及国家标准设计制造;GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

三.适用范围Applicable scope:

适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析半导体材料质量的工具;液晶显示,自动测量和系数补偿,并带有温度补偿功能,自动转换量程;采用AD芯片控制,恒流输出,选配:PC软件,保存和打印数据,生成报表

用于:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品

 

 

 

 

 

 

四.型号及参数Models and technical parameters

 

 

 

 

 

规格型model

FT-331

1.方块电阻范围Sheet resistance

10-5~2×105Ω/□

2.电阻率范围Resistivity

10-6~2×106Ω-cm

测试电流范围

Test current

0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100mA

4.电流 Current accura

±0.1%

 

5.电阻Resistance

≤0.3%

6.显示读数display

液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率LCD: resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity

7.测试方式test mode

普通单电测量general single electrical measurement

8.工作电源power

输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W

9.误差errors

≤4%(标准样片结果 Standard Sample results)

10.选购功能choose to buy

选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台;5.标准电阻

1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test Platform.

11.测试探头Test probe

探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针Optional probe spacing: 1mm;2mm;3mm in three sizes.

Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles.

251X.jpg

加工定制

检测对象

粉末颗粒

检测范围

1

检测精度

0.001

检测类型

1

外形尺寸

1

包装方式

1