标准配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。 
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

技术指标

型号：Thick 800A 
产品名称：金属膜厚测试仪
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。 
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。

产品功能：

1. Ux-720新一代国产镀层厚度检测仪，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探测器），测量和测量结果业界。

2. 采用了FlexFP-Multi技术，无论是生产过程中的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检，我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。

3. Ux-720微移动平台和高清CCD搭配，旋钮调节设计在壳体外部，观察移动位置简单方便。

4. X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、快速和更准确的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。

5. Ux-720镀层测厚仪采用了华唯新技术FlexFp -Multi，不在受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度，测试结果经得起科学验证。

6. 样品移动设计为样品腔外部调节，多点测试时移动样品方便快捷，有助于提升效率。

设计更科学，软硬件配合，机电联动，辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。

7. 软件操作具有操作人员分级管理权限，一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆，测试的记录同时自动添加测试人的登录名称。

产品指标：

测厚技术：X射线荧光测厚技术

测试样品种类：金属镀层，合金镀层

测量下限：0.003um

测量上限：30-50um（以材料元素判定）

测量层数：10层

测量用时：30-120秒

探测器类型：Si-PIN电制冷   

探测器分辨率：145eV

高压范围：0-50Kv，50W

X光管参数：0-50Kv，50W，侧窗类；

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。 
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

应用领域

金属膜厚测试仪应用于镀银、镀镍、镀金、镀锌等，广泛应用于电子电器、高压开关、国家电网、汽车配件
五金工具、PCB板、半导体封装、电子连接器等，天瑞仪器售后服务方便，维护成本低。金属膜厚测试仪哪个牌子好是客户在购买过程中想要了解的一个方面，其实主要的是根据客户的不同要求选择不同类型及品牌的产品，高精密的金属膜厚测试仪对于一个电镀企业测厚来说尤为重要，银属于贵金属元素，不合格的产品（金属镀镍、镀锡、镀银、镀金、镀铑、镀钯等）造成的损失不可估计，能够测试产品镀层厚度，能够大大降低企业的成本，同时提高公司在检测方面的实力，天瑞仪器是一家国内早研发生产金属膜厚测试仪的企业，同时在市场上的占有率也在迅速的攀升，得到了客户的广泛认可。

江苏天瑞仪器股份有限公司镀层测厚仪