FT-391系列手持式四探针方阻测试仪
价格:电议
地区:浙江省 宁波市
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FT-391系列手持式四探针方阻测试仪

一、 概述:

参照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》,采集高精密集成电路恒流源系统,提供便捷的操作模式,便携式外形结构,可充电式电源系统,中英文语言版本.

 

二、 功能介绍:

便携式外形结构更加适用于车间生产、品管抽检,外出携带测量等要求快速便捷测量的场所;也适用于中小型半导体材料生产企业.具有高性价比优势.

液晶显示,显示方阻、电阻率、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度,样品厚度单位从米到纳米均可输入,自动测量、质量轻便,操作简便;

 

三、适用范围:

 

广泛用于:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料

硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻  半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率  导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等.

 

四、技术参数资料

规格型号

FT-391A

FT-391B

FT-391C

1.方块电阻范围

10~2.00×102Ω/□

10~2.00×103Ω/□

10~2.00×104Ω/□

2.电阻率范围

1~2×103Ω-cm

1~2×104Ω-cm

1~2×105Ω-cm

3.分辨率

0.01Ω

0.01Ω

0.01Ω

4.显示读数

液晶显示:电阻率、方阻、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度

5.测试方式

单电测量

6.工作电源

5V,1000mA

7.整机不确定性

≤4.5%(标准样片结果)

8.选配

 选配1.方形探头; 选配2.直线形探头;探针间距;选配3:探针间距1mm;2mm;3mm三种规格; 选配4:探针材质:碳化钨针;镀金磷铜半球形针

 

 


品牌/商标

盘羊

企业类型

制造商

新旧程度

全新