产品介绍

手持式X荧光测厚仪是一款无损、快速检测金属层厚度的仪器，主要应用于简单镀层厚度检测，特别适合不方便取样的产品及超大样品，主要应用于电力设备企业及电力公司。

天瑞在已掌握的成熟的台式X射线荧光光谱仪技术为基础，结合国外相关新的技术发展成果，以国际现有的商品化手持式X射线荧光光谱仪为性能目标，在手持式一代、二代和三代的开发基础上，加入了全新的元素，研制出具有自主知识产权的，满足市场需求的智能、便携式的Genius XRF 手持式四代X荧光分析仪系列产品。
新一代Genius XRF系列是专门针对在现场，野外进行X荧光分析的应用而设计，具有体积小，重量轻，普通人可手持测量的特点；产品超小、超轻、超美、超安全、超方便、超长待机时间、超防水、超准、超快等特点，并在小型X射线仪上引入了数字多道技术，使仪器检出限更好，稳定性更高，适用面更广。该系列产品通过严格检测和验证，各项指标均符合相关技术要求，技术达国际先进水平。产品已开始批量销售于国内外市场，受到客户的好评，打破国外厂家的垄断。

性能优势

性能卓越堪比台式机
手持式X荧光测厚仪小功率端窗一体化微型光管、大面积铍窗SDD硅漂移探测器（世界上的探测器）及微型数字信号多道处理器三大技术的引入，大幅降低测试时间、提高检测、减少测试误差，使手持式仪器具有与台式相近的测试性能。
仪器既可手持1-2秒对样品进行快速测试，也能使用座式对样品进行较长时间的精细测试，10秒即可进行接近实验室的测量。
新增轻元素检测功能
较三代手持式X荧光分析仪，增加了可充气系统，可采用常压充氦气系统对设备充气。从而实现检测从Mg开始的元素，大大扩展测试元素范围，满足特定客户轻元素检测需求。
直接测定无需制样
野外分析无需制备样品，可直接在待测物表面进行测定，可分析任何样品类型，包括电子电器产品、合金样品、地质矿产、土壤、岩石、泥土、残渣、固体小颗粒、液体沉积物等。
高清摄像头检测更加精准
手持式X荧光测厚仪内置高清晰摄像头，可以随时观察被测样品的测试位置，这一点情况在RoHS、地矿样品中犹为重要。
偏差校正轻松到位
多种测试模式设置及无限数目模式的自由添加，配合自动测试模式匹配功能，实现一键式轻松测试。内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
软件，操作简易
有害元素分析仪，合金分析仪，矿石分析仪，土壤重金属分析仪均配置的应用软件。全新的软件界面和内核，将FP和EC软件相结合，应用面更广大。灵敏度高、测试时间短、操作简易，对操作人员限制很小的特点。
准直滤光片，三倍功效提升
在准直滤光片组合基础上，从原有4组增加到12组的,提升了三倍。
数据传输更加高速

性能指标

分析方法：能量色散X荧光分析方法
测量元素范围：镁（Mg）到铀（U）之间的元素均可测量
手持式X荧光测厚仪同时检测元素：数几十种元素可同时分析
处理器和内存：CPU：667MHz,内存：256M，扩展存储支持32G，标配2G，可以海量存储数据。
检测时间：3-30秒
GPS、WIFI：内置系统
电池使用时间：可充电锂电池，电池电量7800mAH,可持续工作8小时；配有宽电压110V-220V通用适配器，可交流供电使用。
检测对象：固体、液体、粉末
探测器分辨率：可达139eV
激发源：50KV/100uA-银靶端窗一体化微型X光管及高压电源
准直器和滤光片：直径4.0和2.0mm准直器，6种滤光片组合自动切换，12种组合，世界上多的组合方式，可满