光学膜厚测量仪 Filmetrics F20

膜厚测量仪 Filmetrics F20具性价比的先进薄膜厚度测量系统
使用 F20 频谱反射测量系统，我们能轻松的实现对膜层厚度和光学常数(n 和 k 值)的测量。通过对膜层顶部、底部反射光谱进行分析，数秒内我们即可得到膜层的厚度、折射率和消光系数。
通过内置的独立软件和 USB 接口，能够很容易的把 F20 安装在任何的 Windows 电脑平台上。健全的软件材料库(100 多种材料)，极大的满足了对各种不同膜层结构测量的需要，包括对单层、多层或独立膜层的测量。透过测量样品的光学常数或导入已存在的资讯，能够在材料库内快速的增加新材料。可测样品膜层基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。这包括几乎所有的电介质与半导体材料，例如：
氧化硅 氮化硅 类金刚石 DLC
光刻胶 聚合物 聚酰亚胺
多晶硅 非晶硅 硅

相关应用
半导体制造
? 光刻胶? 氧化物? 氮化物

光学镀膜
? 硬涂层? 抗反射涂层? 滤光片
液晶显示器
? 盒厚? 聚酰亚胺? ITO
生物医学
? 聚对二甲苯? 生物膜? 硝化纤维

现场演示/支持
点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示！请联系我们，我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易

更多的Filmetrics F20 光学膜厚测量仪请来电咨询

膜厚测量仪 Filmetrics F20膜厚测量仪 Filmetrics F20膜厚测量仪 Filmetrics F20膜厚测量仪 Filmetrics F20