CH-8系列综合性分析探针台测试系统

可用于12英寸以内样品测试；

操作便捷，功能其全，高效精准 ；

可满足晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等

CINDBEST CH-8|8"~12" 综合性分析探针台测试系统

特点/应用

◆ 可用于12英寸以内样品测试

◆ 同轴丝杠传动结构，线性移动

◆ 大手柄驱动，操作舒适，无回程差设计

◆ 针座平台快速、微调升降功能

◆ 可搭配多种类型显微镜

◆ 晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等

◆ 结构模块化设计，可无缝升级

◆ 探针台可根据客户要求定制。

射频探针台，IGBT探针台，变温探针台

台体规格

型号：CH-8/CH-12

样品台尺寸：8英寸/12英寸

水平旋转：可360度旋转，可微调15度，精度0.1度，带角度锁死装置

X-Y移动行程：8英寸*8英寸/12英寸*12英寸

X-Y移动精度：10微米/1微米

样品固定：真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附环

针座平台：U型针座平台，最多可放置10个探针座

平台升降：可快速升降6mm/可微调升降25mm

背电极测试：样品台电学独立悬空，4mm插孔可接背电极

外形尺寸：840mm长*600mm宽*700mm高/950mm长*700mm宽*700mm高

重量：约100千克/150千克

光学系统

显微镜类型：单筒显微镜/体式显微镜/金相显微镜

放大倍率：16X-200X/20X-4000X

移动行程：X-Y轴行程2英寸*2英寸/水平360度旋转，Z轴行程50.8mm

光源：外置LED环形光源/同轴光源

CCD：200万像素/500万像素/1200万像素

定位器

X-Y-Z移动行程：12mm*12mm*12mm

移动精度：10微米/2微米/0.7微米/0.5微米

吸附方式：磁力吸附/真空吸附

线缆：同轴线/三轴线

漏电精度：10pA/100fA/10fA

固定探针：弹簧固定/管状固定

接头类型：BNC/三轴/香蕉头/鳄鱼夹/接线端子

针尖直径：0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米

针尖材质：钨钢/铍铜

可选附件：加热台、显示器、转接头、射频测试配件、屏蔽箱、光学平台、镀金卡盘、光电测试配件、高压测试配件、显微镜快速倾仰装置、激光系统、探针卡夹具。