仪器介绍

镀层厚度测厚仪——天瑞仪器Thick 680膜厚测试仪是天瑞根据多年的贵金属检测技术和经验，以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成，同时可以测试电镀层厚度，公司总部在苏州昆山，极大方便了周边镀层膜厚仪使用厂家的维护。

标准配置

X射线管，正比记数盒，高清摄像头，高度激光，信号检测电子电路。

性能特点

贵金属检测
智能贵金属软件，与仪器相得益彰
任意多个可选择的分析和识别模型
多变量非线性回收程序

技术指标

镀层厚度测厚仪X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
X射线管：管电压50KV，管电流1mA
可测元素：Ti～U
检测器：正比计数管
样品观察：CCD摄像头
测定软件：薄膜FP法、检量线法
Z轴程控移动高度 20mm

应用领域

镀层厚度测厚仪主要金属镀层（镀镍、镀金、镀銠、镀钯、镀铜等）的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。