HD Prime玩具属检测仪

XOS总部位于纽约, 隶属于美国丹纳赫公司(NYSE:DHR）。XOS是的元素分析设备和关键性应用材料生产商，拥有的X射线光学技术DCC?,针对不同的客户和应用提供特定的元素分析解决方案。

HD Prime玩具属检测仪采用HDXRF技术 HD Prime分析仪专注于玩具检测 HD Prime分析仪技术获得美国CPSC的和提名 

HD Prime玩具属检测仪技术通过ASTM F963属检测批准 HD Prime分析仪技术通过ASTM F2853属检测批准

CPSC-获准方法HD Prime分析仪用于基材和涂层有害元素检测

CPSC 批准在基本铅测试中采用HD Prime分析仪HDXRF技术（ASTM F2853-10)
CPSC 批准在玩具八大属测试中采用HD Prime分析仪HDXRF技术（ASTM F963-16)

HD Prime玩具属检测仪测试原理

HDXRF? 是一种元素分析技术，采用XOS公司的DCC反射镜技术，提 实现更 高了测量精准度：多个DCC反射镜捕获来自X光管的X光白光束，并从高选 定几个特定能量的光束，聚焦成很强的束斑，打在被测样品表面。HDXRF分析 仪可选择使用这几束单色光来激发样品，从而分别对涂层和基体中的有毒元素浓 度进行量化分析。此外，通过采用单色光激发，分析仪消除了荧光峰下的散射背 景，从而大大了检测下限；聚焦激发光技术让分析区域直径小至1mm，分析 准确。右图显示了HDXRF分析仪的基本配置及几束单色光激发技术。

HD Prime玩具属检测仪在基体测试中使用 HDXRF 仪器的优势
相对湿化学和传统 XRF 测试来说，HDXRF 具有的优势，包括：
测试，度和性都可与湿化学法(ICP)
现场检查（可应用于工厂、仓库、售商店等）
检验周转时间短
可以对涂层与基体同时进行的分析
对小型和不规则形状物体进行分析时，分析区域 1mm2
与传统 XRF 仪器/方法相比，结果更准确、更

HD Prime玩具属检测仪基体测试中的 HDXRF 仪器使用要求
除了 ASTM F2853-10，新的"08.3" CPSC SOP 还设置了一些附加限制条件，包括：
须通过“多重”测量，在程度上预先确定样本的同质性。
如果某次测量结果过 50ppm （规定限值 100 ppm 的一半），那么，测量值的相对标准偏差不能过 30％。
的测量结果能过 70ppm，这考虑到了 HDXRF 仪器不确定性。

HD Prime玩具属检测仪应用领域

可检测的消费品中有毒元素 As、Ba、Br、Cd、Cr、Hg、Pb、Sb、Se、Cl 

可检测的RoHS规定的有毒元素 Br、Cd、Cr、Hg、Pb 

用于CPSIA方法ASTM F2853-10，测定基材和涂层样品的铅含量。

用于CPSIA方法ASTM F963，测定规定的八大金属元素含量

多元素测定功能合 EN71 ，Prop65，REACH，和RoHS法 令法规。

定量分析：测试结果 基体中元素浓度单位是ppm (wt)，且有颜色显示 是否通过测试（用户可调整通过/未通过指标） 涂层中元素浓度单位是ppm (wt)和ug/cm2，且有颜 色显示是否通过测试（用户可调整通过/未通过指标

 可查阅分析光谱 筛选：测试结果 颜色显示是否通过测试

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