普通型X光测厚仪

仪器介绍

EDX600是集天瑞仪器多年贵金属检测技术和经验，以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。

EDX600贵金属检测仪使用高效而实用的正比计数盒探测器，以实在的价格定位，满足贵金属的成分检测和镀层厚度测量的要求，且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作更人性化、更方便。

性能特点

贵金属检测、镀层厚度检测。

X光测厚仪智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰。

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序。

技术指标

元素分析范围：从钾（K）到铀（U）。

测量对象：固体、液体、粉末

分析检出限可达：ppm。

分析含量一般为：ppm到99.9％。

标准配置

单样品腔。

正比计数盒探测器。

X光测厚仪信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

外观尺寸： 430×380×355mm

样品腔尺寸：306×260×78mm

重量：30kg

应用领域

黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。

主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

经典型X光测厚仪

仪器介绍

Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高移动平台可定位测试点，重复定位小于0.005mm

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

技术指标

型号：Thick 800A

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。

同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

分析含量一般为ppm到99.9% 。

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

度适应范围为15℃至30℃。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

标准配置

开放式样品腔。

精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机及喷墨打印机

应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.

金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。

主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。