荧光镀层测厚仪，X射线电镀测厚仪，天瑞镀层测厚仪，thick800a电镀厚度分析仪，表面镀层测厚仪

Thick800A荧光镀层测厚仪是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款金属镀层测厚仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大表面处理电镀厚度检测仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

荧光镀层测厚仪是一款快速、无损、准确检测镀层厚度新型高端仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测，可以检测如镀金、镀镍、镀铜、镀铬、镍锌、镀银、镀钯等，多分析五层。

分析元素范围：从硫（S）到铀（U）

同时检测元素：多24个元素，多达五层镀层

检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm

分析含量：一般为2ppm到99.9%

镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%

稳定性：可达0.1%

SDD探测器：分辨率低至135eV

采用先进的微孔准直技术，小孔径达0.1mm，小光斑达0.1mm

样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头

准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与

Ф0.3mm四种准直器组合

仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

样品台尺寸：393(W)x 258 (D）mm

X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平台重复定位 ：小于0.1um

操作环境湿度：≤90%

操作环境温度 15℃～30℃