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diatest两瓣式测量系统 盲孔、深孔测头
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北京地泰科盛科技有限公司

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产品描述

【详细说明】 


两瓣式测量系统     两瓣式测量系统,盲孔测头,深孔测头,孔径测量，德国Diatest

 

产品特征    两瓣式测量系统,盲孔测头,深孔测头,孔径测量，德国Diatest

测量孔径的同时可检测孔的圆度和椭圆度

内置式弹性体提供了连续的测力，因此消除了人为因素

通用性高，在单个测头的测量范围内，可以简捷快速的调整到所需尺寸

模块式结构，配置各种附件后可满足任何的测量需求

尤其适用于小孔的测量，以及实验室中高要求的孔径测量

即可用于手动测量又可用于自动测量

 

技术参数  

测量范围：Ф0.47-Ф41.1mm（两点式） Ф4.75-Ф150.6mm（三点式）

测量深度：可达2000mm以上

重复：≤1μm   配合台架使用时，重复可达0.5μm

性误差：≤1％

  


   盲孔式两瓣式测头    两瓣式测量系统,盲孔测头,深孔测头,孔径测量，德国Diatest

深孔两瓣式测头两瓣式测量系统,盲孔测头,深孔测头,孔径测量，德国Diatest
 


测量范围
（mm）		小测量高度
（标准测头）		小测量高度
（盲孔测头）		所需加长杆使用加长杆后
的测量深度（L=64）		要求指示表
测力

2.05-2.70

0.9


TV-2

90

0.8-1

2.55-4.20

1.2

0.3

TV-2.5

95

0.8-1

4.20-9.80

1.7

0.5

TV-4

95

1-1.5


除了上述的标准测头外，我们也可以根据客户需求提供测头，例如：盲孔测头、沟槽测头、平行槽宽测头、内齿测头以及三点式测头:两瓣式测头两瓣式测量系统,盲孔测头,深孔测头,孔径测量，德国Diatest

        

          

附件：


浮动夹头1124F		当使用两瓣式测量系统测量小孔（≤25.0mm）时，推荐使用测量台架，此时为了测头在进入被测孔时能容易的找到孔的中心，可以再台架上安装一个浮动夹头，他可以提供可以再水平面上提供微小的浮动量，这样避免了测头的磨损。
浮动范围为：0-1.5mm
也提供可调整测力的浮动夹头：1124F-1
V型定位盘1124-V通孔测量定位盘1124-T
V 型定位盘安装在台架的测量面上，用来定位工件。
一般安装在小台架上，用于小尺寸测量		安装在小台架上用于定位工件
一般适用于测量Ф13mm以下的通孔

测量台架

1124-S58测量台架1124-S102

产品特征：

  • 操作简便，尤其适用于小尺寸测量

  • 量程：0-40mm

  • 测量盘直径：Ф58mm

  • 通过检测螺母简单准确的调整测量高度

产品特征：

  • 操作简便，适用于较大尺寸测量

  • 量程：0-130mm

  • 测量面：

北京地泰科盛科技有限公司 两瓣式测量系统,盲孔测头,深孔测头,孔径测量，德国Diatest

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