方块电阻测试仪是一种依照类似的准和美国A..T.M准，专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

该仪器以大规模集成电路为主要；用基准电源和运算放大器组成高稳流源；带回路正常指示电路；并配以大型LCD显示读数，使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、高的特点。

特点

1

采用大规模集成电路作为仪器的主要部，测量准确稳定，低功耗；

2

以大屏幕LCD显示读数，直观清晰；

3

采用单个电池供电，带电池欠压指示；

4

体积≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；

5

之手握式探笔，球形探针、镀金探针接触被测材料及保护薄膜

6

带抗静电模块

技术指

测量范

按方块电阻量值大小为二个量程档：

1.方块电阻 1.00～199.99Ω/□；

2.方块电阻 10.0～1999.9Ω/□；

小辨率：0.01Ω/□

恒流源

测量过程误差：≤±0.8%

模数转换器

量程：0～199.99mv；

辨率：10μv；

方式：LCD大屏幕显示；极性，量程均自动显示；小数点同步显示；

测量不确定度

在整个量程范内，测量不确定度≤5%

四探针规格

间距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；缘电阻≥500MΩ

电源

9V叠层电池1节

方块电阻测试仪 型号:DH21-ST-21方块电阻测试仪 型号:DH21-ST-21

方块电阻测试仪是一种依照类似的准和美国A..T.M准，专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

该仪器以大规模集成电路为主要；用基准电源和运算放大器组成高稳流源；带回路正常指示电路；并配以大型LCD显示读数，使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、高的特点。

特点

1

采用大规模集成电路作为仪器的主要部，测量准确稳定，低功耗；

2

以大屏幕LCD显示读数，直观清晰；

3

采用单个电池供电，带电池欠压指示；

4

体积≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；

5

之手握式探笔，球形探针、镀金探针接触被测材料及保护薄膜

6

带抗静电模块

技术指

测量范

按方块电阻量值大小为二个量程档：

1.方块电阻 1.00～199.99Ω/□；

2.方块电阻 10.0～1999.9Ω/□；

小辨率：0.01Ω/□

恒流源

测量过程误差：≤±0.8%

模数转换器

量程：0～199.99mv；

辨率：10μv；

方式：LCD大屏幕显示；极性，量程均自动显示；小数点同步显示；

测量不确定度

在整个量程范内，测量不确定度≤5%

四探针规格

间距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；缘电阻≥500MΩ

电源

9V叠层电池1节