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供应方块电阻测试仪（九州空间生产）
价格：电议
地区：北京市
手 机：15201506284
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北京九州晟欣科技有限公司

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JZ-ST21L型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
    该仪器以大规模集成电路为主要；用基准电源和运算放大器组成高稳流源；带回路有效正常指示电路；并配以大型LCD显示读数，使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、高的特点。

◆ 特点：

1 采用大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定，低功耗；
2 以大屏幕LCD显示读数，直观清晰；
3 采用单个电池供电，带电池欠压指示；
4 体积≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；
5 特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜
6 探头带抗静电模块

◆ 技术指标：

测量范围 按方块电阻量值大小分为二个量程档：
  1.方块电阻 1.000～19.999Ω/□；
  2.方块电阻 10.00～199.99Ω/□；
 小分辨率：0.001Ω/□
恒流源 测量过程误差：≤±0.8%
模数转换器 量程：0～199.99mv；
 分辨率：10μv；
 方式：LCD大屏幕显示；极性，超量程均自动显示；小数点同步显示；
测量不确定度 在整个量程范围内，测量不确定度≤5%
四探针探头规格 间距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ
电源 使用一节450mAH的锂电池

◆ JZ-ST21L方块电阻测试仪可选配HP系列四探针探头的型号及规格：
型号
(Model)		曲率半径
(Radius)		压力
(loads)		探针间距
(spacing)		探针排列
(Arrangement)
HP5010.5mm100g3.8mm直线
HP5020.75mm100g3.8mm直线
HP5030.1mm150g1mm直线
HP5040.5mm100g1.59mm直线

◆ ST-21L方块电阻测试仪可选配SP-601型方型四探针探头的型号及规格：
型号
(Model)		曲率半径
(Radius)		压力
(loads)		探针间距
(spacing)		探针排列
(Arrangement)
SP6010.5mm100g1.59mm方形


品牌/商标

九州空间

企业类型

制造商

新旧程度

全新

原产地

北京

方块电阻测试仪:

采用大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定，低功耗；

便携式方块电阻测试仪:

以大屏幕LCD显示读数，直观清晰；

手持式方块电阻测试仪:

采用单个电池供电，带电池欠压指示；