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供应多功能数字式四探针测试仪/JZ-ST2258A
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JZ-ST2258A多功能数字式四探针测试仪

二、概述       多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。      仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。      主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；电压电流全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类功能，分类10类。      探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。      测试台选配：一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选SZT-K型测试台，也可选配SZT-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配SZT-G型测试台测试橡塑材料电阻率。        详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》点击进入       仪器具有测量高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。       仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。三、基本技术参数1. 测量范围、分辨率（可向下拓展1～3个数量级，括号内为向下拓展3个数量级）     电    阻：1.0×10-3 ～ 200.0×105  Ω,    分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×104  Ω                （1.0×10-6 ～ 200.0×102  Ω,    分辨率0.1×10-6 ～ 0.1×102 Ω）     电 阻 率：1.0×10-3 ～ 200.0×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103  Ω-cm                （1.0×10-6 ～ 200.0×101 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ～ 0.1×101  Ω-cm）     方块电阻：5.0×10-3 ～ 100.0×104 Ω/□  分辨率0.5×10-3 ～ 0.1×103  Ω/□                （5.0×10-6 ～ 100.0×101 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×101  Ω/□）2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)   直    径： SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限   SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.   长(高)度：  测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限.   测量方位:  轴向、径向均可
3. 量程划分及误差等级
满度显示200.020.002.000200.020.002.000200.0
常规量程kΩ-cm/□Ω-cm/□mΩ-cm/□
拓展量程Ω-cm/□mΩ-cm/□μΩ-cm/□
基本误差±2%FSB±4LSB±1.5%FSB±4LSB±0.5%FSB±2LSB±0.5%FSB±4LSB
4) 工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W5) 外形尺寸：W×H×L=215mm×85mm×190mm      净   重：≤1.5～2.0kg


品牌/商标

九州空间

企业类型

制造商

新旧程度

全新

原产地

北京

多功能数字式四探针测试仪:

电 阻：1.0×10-3 ～ 200.0×105 Ω

数字式四探针测试仪:

仪器具有测量高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点

数字式四探针测定仪:

方块电阻：5.0×10-3 ～ 100.0×104 Ω/□