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残余应力测试仪
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北京飞凯曼科技有限公司

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北京飞凯曼科技公司提供2维平面成像残余应力测试仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。

WPA型残余应力测试仪是一款专门用于相位差在几千纳米范围内的样品的测试，它能够测量出样品的相位差分布。

主要参数表

型号

WPA-100

WPA-100-L

WPA-100-S

WPA-micro

特点

标准型

大面积型

小面积透镜

显微型

典型应用

光学薄膜，透明塑料

光学薄膜，透明塑料

智能手机镜头，树脂镜片

大分子晶体，光学薄膜，强化玻璃

传感器

宽范围型偏振图像传感器

测量范围

0-4000nm（可选12000nm超宽范围）

重复性

<1.0nm

像素数

约11万像素

测量波长

523nm,543nm,575nm

仪器尺寸mm

310×487×725mm

430×566×977mm

200×275×310mm

250×487×690mm

观测到的区域mm

25×34 mm至100×136mm

34×47mm至250×340mm

4.0×5.4mm 至11.6×15.8mm

41×55mm至 810×1081mm

重量

20kg

26 kg

9kg

11 kg

应用领域：

玻璃，显示组件，注塑塑料件，拉伸纤维，光纤器件，微影手提袋，镜片毛坯，镜片，硅片，矿产，激光晶体，液态晶体，双折射晶体等

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