X-TECH X荧光测厚仪
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图文详情
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产品属性
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一、X-TECH荧光光谱仪的特点
1、镭射对焦系统
2、CCD高彩色摄像头
3、FP算法，简化校正过程
4、测量直径小可达到0.1mm，可供选择的准直器0.1mm,0.2mm,0.3mm,矩形等多种规格
5、多种滤波器灵活应用
6、可同时测量多种镀层，多4层
7、镀液分析
8、多种样品台可选
9、操作简单测量准确
二、测量软件
搭配WINDOWS XP操作系统
测量数据统计分析方便
可自定义模板
三、基本参数配置
TXD100系列
正比计数探测器
1、高计数率，良好度，可测量微小样品。
2、合金成份常量分析
3、超高的性价比
1、镭射对焦系统
2、CCD高彩色摄像头
3、FP算法，简化校正过程
4、测量直径小可达到0.1mm，可供选择的准直器0.1mm,0.2mm,0.3mm,矩形等多种规格
5、多种滤波器灵活应用
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9、操作简单测量准确
二、测量软件
搭配WINDOWS XP操作系统
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三、基本参数配置
TXD100系列
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1、高计数率，良好度，可测量微小样品。
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