FNKS08N60AL MOS管
价格:电议
地区:上海市
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针对逆变器应用的MOSFET的要求包括:

    
特定的导通电阻(RSP)应该较小,来减少导通损耗。器件到器件的RDSON变化应该较小,这有两个目的:在逆变器输出端的DC分量较少,且该RDSON可以用于电流检测来控制异常状况(主要在低压逆变器中);对于相同的RDSON,低RSP可以减少晶圆尺寸,从而降低成本。

    
当晶圆尺寸减小时,可以使用非箝位感应开关(UIS)。应该采用良好的UIS来设计MOSFET单元结构,且不能有太多的让步。通常,对于相同的晶圆尺寸,相比平面MOSFET,现代沟槽MOSFET具有良好的UIS。薄晶圆减小了热阻(RthJC),在这种情况下,较低的品质因数(FOM)可以表示为RSP×RthJC/UIS3.良好的安全工作区(SOA)和较低的跨导。

    
会有少量栅漏电容(CGD)(米勒电荷),但CGD/CGS比必须低。适度高的CGD可以帮助减少EMI。极低的CGD增加了dv/dt,并因此增加了EMI。低CGD/CGS比降低了击穿的可能性。这些逆变器不在高频下工作,因而允许栅极ESR有少许增加。因为这些逆变器工作在中等频率上,所以可以允许有稍高的CGDCGS

即使在该应用中工作频率已较低,但降低COSS有助于减少开关损耗。同时也允许稍微增大COSS

    
开关期间的COSSCGD突变会引起栅极振荡和较高过冲,长时间后将有可能损坏栅极。这种情况下,高源漏dv/dt会成为问题。

高栅极阈值电压(VTH)可以实现更好的抗噪性和更好的MOSFET并联。VTH应该超过3V

    
体二极管恢复:需要具有低反向恢复电荷(QRR)和低反向恢复时间(tRR)的更软、更快的体二级管。同时,软度因子STb/Ta)应大于1。这将减小体二极管恢复dv/dt及逆变器直通的可能性。活跃的体二极管会引起击穿和高压尖峰问题。

    
在某些情况下,需要高(IDM)脉冲漏极电流能力来提供高(ISC)短路电流抗扰度、高输出滤波器充电电流和高电机起动电流。

通过控制MOSFET的开通和关断、dv/dtdi/dt,可控制EMI

通过在晶圆上使用更多的丝焊来减少共源电感。

    
在快速体二极管MOSFET中,体二极管的电荷生命周期缩短,因而使得tRRQRR减小,这导致带体二极管的MOSFET与外延二极管相似。该特性使得该MOSFET成为针对各种不同应用的高频逆变器(包括太阳能逆变器)的选择。至于逆变器桥臂,二极管由于无功电流而被迫正向导通,这使得它的特性更为重要。常规MOSFET体二极管通常具有长反向恢复时间和高QRR。如果在负载电流从二极管向逆变器桥臂的互补MOSFET转换的过程中,体二极管被迫正向导通了,那么在tRR的整个时间段,电源将被抽走很大的电流。这增加了MOSFET中的功率耗散,且降低了效率。而效率是非常重要的,尤其是对于太阳能逆变器而言。

    
活跃体二极管还会引入瞬时直通状况,例如,当其在高dv/dt下恢复,米勒电容中的位移电流能够对栅极充电到VTH以上,同时互补MOSFET会试图导通。这可能引起总线电压的瞬时短路,增加功率耗散并导致MOSFET失效。为避免此现象,可连接外部的SiC或常规硅二极管与MOSFET反向并联。因为MOSFET体二极管的正向电压较低,肖特基二极管必须与MOSFET串联连接。另外,还必须在MOSFET与肖特基二极管组合的两端跨接反并联SiC。当MOSFET反偏时,外部SiC二极管导通,并且串接的肖特基二极管不允许MOSFET体二极管导通。这种方案在太阳能逆变器中已经变得非常普及,可以提高效率,但却增加了成本。

    
飞兆半导体采用FRFETUniFET II MOSFET器件是一种高压MOSFET技术功率器件,适合以上所列应用。与UniFET MOSFET相比,由于RSP减小,UniFET II器件的晶圆尺寸也减小,这有助于改进体二极管恢复特性。这种器件目前有两个版本:具有较好体二极管的FFRFET器件,和具有市场上QRRtRRUUltra FRFET MOSFETUltra FRFET型可以省去逆变器桥臂中的SiC和肖特基二极管,同时达到相同的效率并降低成本。在这种情况下,QRR已经从3100nC减少到260nC,并且二极管开关损耗也显著降低。