供应mjld型吸收率和法向发射率测量
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详细说明

mjld型吸收率和法向发射率测量装置

产品介绍

       mjld型吸收率和法向发射率测量装置,主要用于测量材料的太阳吸收比和法向发射率。它是将吸收率测量装置和法向发射率测量装置合为一体,配有计算机和专用工作软件,实现自动测量的先进测量设备。本装置是由北京南奇星科技发展有限公司和航天那研究员联合研制。是航天系统测量的智慧结晶。本设备是国内,填补国内测量材料太阳吸收比和法向发射率仪器的空白,同时在测量方法上有进一步的创新。

产品技术指标

      法向发射率

测量范围:0.05~0.99;

工作温度范围:-30~80℃;

测量不确定度:当εn>0.7  为±1.5%;  当εn<0.2  为±5%;其余为2%;

探测器:平面热电堆 ;

峰值波长:8.4~11μm;

吸收率

测量范围:0.02~0.99;

工作温度范围:-30~80℃;

测量不确定度:当αs>0.8  为±2.0%;  当εn<0.2  为±4%;其余为2.5%;

积分球直径:Φ150;

光源高色温:220V300W;

探测器:真空平面热电堆;

工作波长:0.35~2.5μm;

用  途

      测量固体材料的太阳吸收和法向发射特性。     

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