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纳米粉末粒度分布的测定 X射线小角散射法 GB/T 13221-2004

X射线小角散射（SAXS）系发生于原光束附近零至几度范围内的相干散射现象，物质内部尺度在1纳米至数百纳米范围内的电子密度的起伏是产生这种散射效应的原因。利用SAXS技术可以表征物质的长周期、准周期结构和测定纳米粉末的粒度分布，广泛应用于纳米尺度的各种金属、无机非金属、有机聚合物粉末以及生物大分子、胶体溶液、磁性液体等颗粒尺寸分布的测定；也可对各种材料中的纳米级孔洞、偏聚区、析出相等的尺寸进行分析研究。其粒度分析结果在统计上有充分的代表性，其制样方法相对比较简单，对颗粒分散的要求也不像其他方法那样严格。

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