荧光光谱仪镀层厚度分析系列
　　iEDX-150T
　　采用非真空样品腔；

　　用于金属电镀镀层分析；

         可同时分析镀层中的合金成分比列。

　　技术指标：
　　>多镀层，1~6层
　　>测试：0.01 um
　　>多次测量重复性误差<0.1%
　　>元素分析范围从铝（Al）到铀（U）
　　>测量时间：10-60秒
　　>Si-PIN探测器，能量分辨率为149电子伏特
　　>微焦X射线管50KV/1mA,钨靶，焦斑尺寸 75um, 寿命大于3万小时
　　>7个准直器及6个滤光片自动切换
　　> XYZ三维移动平台，荷载为5公斤
　　> 高清CCD摄像头，监控位置
　　>多变量非线性去卷积曲线拟合
　　>高性能FP/MLSQ分析

　　>平台移动范围 300（X）x300（Y）x25 （Z）mm

　　图谱界面：
　　>软件支持无标样分析
　　>超大分析平台和样品腔
　　>集成了镀层界面和合金成分分析界面
　　>采用先进的多种光谱拟合分析处理技术
　　>分析可达到0.01um
　　分析结果
　　>直接打印分析

　　>可转换为PDF,EXCEL和HTML格式

　　应用领域：
　　金属电镀镀层分析领域