供应Olympus MG2系列声波测厚仪
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Panametrics MG2系列
Panametrics® MG2系列是一些小巧、经济的超声测厚仪,其主要用户为负责测量有内部腐蚀的管道、箱罐容器和其它金属构件的剩余厚度的检测人员和维护工程师。这些测厚仪具有轻便且符合人体工程学的单手操作设计,为许多需要对疑为金属壁变薄的材料所进行的快速检测应用,提供
了性价比极高的测量解决方案。

Olympus是世界的创新型、高质量超声检测仪器的生产商。我们认为我们的客户应该享用真正具有质量好、高、操作简便且价位适中的测厚仪。我们生产的3款坚固耐用的测厚仪可完全满足客户的期望:Panametrics®MG2型仪器、Panametrics® MG2-XT
型仪器,以及Panametrics® MG2-DL型仪器。每款仪器都具有许多实用的测量功能,可解决在厚度测量过程中出现的各种各样的问题。

特色

  • 从工件的一侧测量:超声测厚仪从材料的一侧发射声
    波,无需切开材料被腐蚀的部分,即可进行数字化测量。
  • 袖珍轻便:这些手持式测厚仪小巧轻便,可被放置于工具箱或口袋中。它们是快速测量材料中难于接触到的区域的理想的测厚仪。
  • 直观的彩色键盘:操作简易省时,可以直接访问许多重要的测量功能。按键根据不同的功能被分组、标色,便于用户对按键的识别。
  • 宽屏背光液晶显示屏:显示屏的大数字字符便于阅读厚度测量读数。此外,如使用场致发光的背光显示,屏幕内容无论在暗处还是阳光下都会清晰可见。
  • MG2-XT型仪器和MG2-DL型仪器都配备有Olympus® THRU-COAT®(穿透镀层)功能、B扫描,及带有波
    形调节的可选实时A扫描。

可在3种仪器中选择
PANAMETRICS MG2
Panametrics® MG2型测厚仪具有许多基本的功能,如:小值/值模式,以每秒20个读数快速测量和回放小厚度值;冻结模式,可即刻捕捉关键厚度读数;零位补偿模式,可确保发挥探头的性能。该价格合理的手持式测厚仪还具有其它多种功能,可用于在现场进行的快速测量。
PANAMETRICS MG2-XT
Panametrics® MG2-XT型测厚仪具有与Panametrics MG2型测厚仪相同的功能。该测厚仪由于增加了B扫描、增益调整、自动灵敏度优化、回波到回波、Olympus® THRU-COAT®(穿透镀层)、差值模式、高/低报警、可选动态A扫描等测量功能,可在条件恶劣的应用中发挥更高的效能。这款测厚仪是测量表面涂有镀层或漆层的材料厚度的理想的仪器。
PANAMETRICS MG2-DL
Panametrics® MG2-DL是MG2系列测厚仪中先进的一款仪器。该仪器不仅具有Panametrics MG2堠吀謀仪器的所有功能,还装有一个基于文件的通用的字母数字数据记录器,可存储增量、顺序、两维及Boiler格式的文件。使用可选的GageView™ Pro接口程序,可以在计算机和测厚仪之间双向传输数据。

 

MG2系列腐蚀测厚仪可选探头(部分)

探头型号 频率 探头尺寸 温度范围 测量范围(钢)
D790 5.0MHz 11.0mm -20-500℃ 1-500mm
D791 5.0MHz 11.0mm -20-500℃ 1-500mm
D791-RM 5.0MHz 11.0mm -20-400℃ 1-500mm
D792 10.0MHz 7.2mm 0-50℃ 0.5-25mm
D794 5.0MHz 7.2mm 0-50℃ 0.75-50mm
D797 2.0MHz 22.9mm -20-400℃ 2.5-500mm
D7226 7.5MHz 8.9mm -20-150℃ 0.71-100mm
D798 7.5MHz 7.2mm -20-150℃ 0.71-100mm
D799 5.0MHz 11.0mm -20-150℃ 1-500mm
MTD705 5.0MHz 5.1mm 0-50℃ 0.75-19mm

Panametrics MG2系列技术规格

测量
测量模式:使用双晶探头的脉冲回波法
厚度测量范围:0.50 mm~635.00 mm,厚度测量范围取决于材料、探头、表面条件和温度。
材料声速校准范围:0.508 mm/μs~18.699 mm/μs
显示模式
• 厚度的数字式读出形式
• 显示横截面图像的B扫描
• 实时A扫描或称波形图(可选)
• dB栅格(Panametrics MG2-DL型)

厚度显示分辨率:低:0.1 mm标准:0.01 mm
测量速率:标准:每秒钟4次测量。快速:每秒钟20次测量。
小值/值模式:在每秒钟20次测量的速率下,测量和回放小或厚度值。
冻结模式:冻结图像,以瞬时捕获关键厚度值。小化探头的耦合提离误差,易于高温测量。
自动探头识别:自动识别列表中的Panametrics® 探头类型。调整内部参数,并校正V形声程误差。
零位补偿:补偿探头温度和零位偏移。显示保持/空白模式:保持或清除测量后的显示视图。
场致发光背光显示:可选“开启”或者“自动开启”。
接收器带宽:1 MHz~18 MHz(–3 dB)
公制/美制单位模式:毫米或者英寸。
显示语言:英语、法语、德语、西班牙语、意大利语及其它自定义语言。
电源供应
电池:3节AA碱性电池。
工作时间:电池供电时间一般为150小时;如使用背光,可连续供电30 个小时。
低电量显示器:持续显示电池的电量状态。
省电模式:自动电源关闭/持续开启。
一般规格
符合IP65标准:防溅、防撞击机壳。密封、以颜色区分功能的键盘,带触感及声音反馈。
危险区域操作:可在美军标准MIL-STD-810E,方法511.3,程序1所规定的环境中操作。
工作温度范围:
–10 °C~50 °C
外型尺寸(宽 x 高 x 厚):84.0 mm x 152.4 mm x 39.6 mm
重量:340 g
MG2-XT与MG2-DL的特殊技术规格
Olympus® THRU-COAT®(穿透镀层)测量:
利用单个底面回波(使用D7906-SM和D7908探头),测量镀层厚度和金属的实际厚度。
穿透漆层回波到回波:利用多重底面回波,不计涂层厚度,显示金属的真实厚度值。
• 自动回波到回波
• 手动回波到回波(仅适用于实时A扫描模式),可进行:
-- 增益调整
-- 邻区抑制
-- 回波抑制
增益调整:
• 为增益调整预设高、低或标准增量。
• 手动增益调整的增量可被设为1 dB(仅适用于实时A扫描模式)。
邻区抑制:可抑制由于材料表面粗糙或不规则而造成的噪声回波(仅适用于A扫描模式)。
自动灵敏度增益优化:可根据厚度和材料的噪声水平,自动提高或降低正常测量的灵敏度。
报警模式:可编程的高/低设置点,带视听指示器。
差值模式:显示实际厚度测量值与自定义参考值之间的差值。
带有波形调节的实时A扫描:用户使用可选的实时A扫描模式功能,可以直接在仪器的视图中查看超声波形(或A扫描)。该模式包括以
下功能:手动增益调整、邻区抑制、回波抑制、延迟。
PANAMETRICS MG2-DL内置数据记录器
数据记录器:Panameterics® MG2-DL型仪器通过USB端口,可以识别、存储、回放、清除及传输厚度测量读数和仪器的配置信息。
存储量:可存储多达31000个厚度测量读数,或1300个带有厚度测量的波形(带有波形选项)。
存储的数据文件:每个被存储的厚度读数,连同测量状态标记及可识别声速、探头等参数的设置编码,都被归档。
文件名长度:8位字母数字字符。
标识码:10位字母数字标识码系统,可识别或定位所存储的数据。
文件模版:增量型、顺序型、2维栅格、Boiler及PC中的自定义文件模版。
标准配置
MG2型数字超声测厚仪、手腕带、测试棒、耦合剂、用户手册、塑料携带箱(仅指Panametrics MG2-XT型和Panametrics MG2-DL型仪器)、2年有限担保。标准配置还包括一个双晶探头。
选购附件
2214E: 5阶梯试块,美制单位。
2214M:5阶梯试块,公制单位。
MG/EW:延长担保。
MG2/RPC:橡胶保护套。
GageView:用于Panametrics MG2-DL的PC机接口程序。
MG2/XTRETRO:将Panametrics MG2型转换为Panametrics MG2-XT型的转换器。
MG2XT/DLRETRO:将Panametrics MG2-XT转换Panametrics MG2-DL型的转换器。
MG2/DLRETRO:将Panametrics MG2型转换为Panametrics MG2-DL型的转换器。
MG2/WF:带有波形调节的实时A扫描仅用于Panametrics MG2-XT型与PanametricsMG2-DL型仪器(不适用于
Panametrics MG2型仪器)。
USB/ADP-115:AC-115电源供应
USB/ADP-230:AC-230电源供应
欲查询其它有关支架、连接杆及耦合剂的信息,请与我联系。