CC1

1、使用范围：本产品损耗低、容量稳定性高、电容量变化与温度之关系呈预定直线关系。适用于谐振回路和需要补偿温度效应之电路中。

2、试验环境：

 a、标准状态：试验环境如无特别规定，以标准试验环境（温度15℃~35℃，相对湿度45~75%RH，气压86~106kPa）进行试验。

 b、测试环境温度：25℃±2℃

     相对湿度：60~70%RH

     气压：86~106kPa 

3、测试条件：

   a、容量/损耗测试：     测试频率：1MHz    测试电压：1V

   b、耐压测试：2.5U_R（U_R：额定电压）

   c、绝缘电阻IR： 测试电压：额定电压  测试时间：60S

CT1

1、使用范围：本产品适用于对损耗和容量稳定性要求不高的电路中,如低频旁路、耦合、滤波、退耦等，亦可用于控制电路作时间常数元件和在能量转换电路中使用。

2、试验环境：

 a、标准状态：试验环境如无特别规定，以标准试验环境（温度15℃~35℃，相对湿度45~75%RH，气压86~106kPa）进行试验。

 b、测试环境温度：25℃±2℃

     相对湿度：60~70%RH

     气压：86~106kPa 

3、测试条件：

   a、容量/损耗测试：     测试频率：1KHz    测试电压：1V

   b、耐压测试：2.5U_R（U_R：额定电压）

   c、绝缘电阻IR： 测试电压：额定电压  测试时间：60S

CS1