一、产品介绍

实验内容：

l 光纤端面的处理及耦合

l 以光纤为相干光传输路径，搭制马赫-曾德尔干涉仪，并通过CCD观察干涉条纹

l 测量温度变化对干涉条纹的影响。

仪器特点；

l 通过CCD进行图像采集

l 采用半导体激光器（650nm、4mw）作为光源。

l 采用半导体制冷器进行温度调整和控制，温控范围：100C——400C

设备成套性：

光学实验平台、半导体激光器、分束镜、七个自由度光纤耦合器、CCD摄像头+监视器、光纤、光纤刀、光纤剥皮钳、半导体温控仪等。

二、技术指标

光学实验平台（含桌） 1200*800*80mm3。

半导体激光器635nm, 3mW。

分束镜（含架）1:1，二维可调

半导体制冷温控仪：温控范围：100C——400C