上海沪杏光学的仪器介绍：XPH-400系列透射型偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子等常用的实验仪器。该仪器通过光学与电子显微镜配合使用，可在微观上观察其熔化、升华、结晶过程中的状态和各种变化。
　　上海沪杏光学仪器有限公司原系沪星仪表厂，前身主要为国家高科研、军用定向生产仪器仪表，建厂历史悠久，产品质量过硬，科研水平，长期保持光荣的传统和优良的作风。改制后的我们，秉承原有的开创精神，经过几代人的卓越奋斗，已发展成为集研制和生产光学计量测试仪器以及先进高效的光学冷加工设备的综合性企业的联系方式.
　　XPH-400系列透射型偏光熔点测定仪仪器采用人性化设计，自动化程度高、操作简单、技术先进、性能、结构新颖可靠，属于该领的水平产品。仪器可供广大用户作单偏光观察、正交偏光观察、锥光观察以及显微摄影，同时观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化，控温装置。本系统配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件，具有可扩展性，可连接计算机和数码相机对图片进行保存、编辑和打印，是一组具有较完备功能和良好品质的新型产品。
　　XPH-400系列透射型偏光熔点测定仪显微镜技术参数：
　　名称规格
　　总放大倍数 40X---600X
　　无应力消色差物镜 4X/0.1
　　10X/0.25
　　20X/0.40
　　40X/0.65弹簧
　　60X/0.75弹簧
　　目镜 10X十字目镜
　　10X分划目镜
　　试片石膏1λ试片
　　云母1/4λ试片
　　石英楔子试片
　　测微尺 0.01mm
　　滤色片蓝色
　　镜筒三目观察
　　XPH-400系列透射型偏光熔点测定仪加热台技术参数
　　1、工作温度：室温至300℃
　　2、起始温度设定速率：50℃至300℃不大于12min 300℃至50℃不大于15min
　　3、仪器温度小读数：0.1℃
　　4、加热台温度控制准确度：室温-200℃时±0.5℃、200-320℃时±1℃
　　5、起始温度设定准确度：±1℃
　　6、线性升降温速率（℃/min）：0.2-0.5-1-1.5-2-3-4-5（共八档）
　　7、线性升温速率偏差：±10%
　　8、降温速率控制：自带微小风扇通过设置预置温度来减小降温速率
　　9、样品移动：样品可以手动通过载玻片小范围移动便于观察。
　　10、加热体方式：上面板与下面板同时加热（样本放在两面板中间）
　　11、温度记录方式：可记录初熔、终熔温度
　　温度超过100℃时40X的物镜工作距离太近易损坏，建议使用长工作距离的20X物镜
　　XPH-400系列透射型偏光熔点测定仪系统组成
　　电脑型偏光熔点测定仪（XPH-400E）：
　　1、偏光显微镜 2、专用适配镜 3、彩色摄像器4、A/D图像采集卡5、热台
　　数码型偏光熔点测定仪（XPH-400Z）：
　　1、偏光显微镜 2、数码适配镜 3、数码相机 4、热台
　　XPH-400系列透射型偏光熔点测定仪总放大参考倍数
　　电脑型（XPH-400E型）：100--2600倍
　　数码型（XPH-400Z型）：100--2000倍