镀层测厚仪(CMI900)
价格:电议
地区:广东省 深圳市
电 话:86-755-83566211-8063
手 机:86-13725561238
传 真:N/A
  CMI900(X荧光镀层测厚仪)
  
  应用
  
  CMI900X射线荧光镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量,从质量管理到成本节约有着广泛的应用。
  
  行业
  用于电子元器件,半导体,PCB,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器……多个行业表面镀层厚度的测量。
  
  技术参数
  X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统
  空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
  标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等
  功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准
  75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选
  装备有安全防射线光闸
  
  二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片
  
  任选
  准直器程控交换系统多可同时装配6种规格的准直器
  多种规格尺寸准直器任选:
  -圆形,如4、6、8、12、20mil等
  -矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
  测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时,小测量斑点尺寸为:0.078x0.055mm
  (使用0.025x0.05mm准直器)
  在12.7mm聚焦距离时,测量斑点尺寸为:0.38x0.42mm
  (使用0.3mm准直器)
  样品室