CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪
　　CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。

　　主要性能指标及技术指标
　　主信号通道：
　　信号输入方式：单端交流输入
　　输入量程：0.5mV-500mV
　　信号频率范围：1KHz±5％
　　本机频相噪声：≤4nV／Hz（折合到输入端）
　　性误差：≤0.1％
　　零点时源：≤0.2％／h

　　参考信号通道：
　　信号输入方式：单端交流输入
　　输入幅度：20-700mV
　　频率范围：≥320.