X射线荧光镀层测厚仪
价格:电议
地区:广东省 深圳市
电 话:86-755-22157347-8006
  Ø通过自动定位功能提高操作性测量样品时,以往需花费约10秒的样品对焦,现在3秒内即可完成,大大提高样品定位的操作性。
  Ø微区膜厚测量提高通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的。
  Ø多达5层的多镀层测量使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。
  Ø广域观察系统(选配)可从250×200mm的样品整体图像指定测量位置。
  Ø对应大型印刷线路板(选配)可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。
  Ø低价位与以往机型相比,既提高了功能性又降低20%以上的价格。