涂层测厚仪
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地区:四川省 成都市
电 话:86-28-83292151
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  MINITEST 720/730/740涂层测厚仪
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  ●创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的性
  ●测量范围达15mm,可更换F、N或FN探头,供内置或外接探头使用
  ●FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基体,操作方便不易出错 

其他说明


SIDSP探头

探头

F1.5,N0.7,FN1.5

F2

F5,N2.5,FN5

F15

特性

F

N

F

F

N

F

测量范围

0-1.5mm

0-0.7mm

0-2mm

0-5mm

0-2.5mm

0-15mm

使用范围

小工件,薄涂层,跟测量支架一起使用

粗糙表面

标准探头,使用广泛

厚涂层

测量原理

磁感应

电涡流

磁感应

磁感应

电涡流

磁感应

信号处理

探头内部32位信号处理(SIDSP)


± (1μ m+0.75%读值)

± (1.5μ m+0.75%读值)

± (5μ m+0.75%读值)

重复性

± (0.5μ m+0.5%读值)

± (0.8μ m+0.5%读值)

± (2.5μ m+0.5%读值)

低端分辨率

0.05μ m

0.1μ m

1μ m

小曲率半径(凸)

1.0mm

1.5mm

5mm

小曲率半径(凹,外置探头)

7.5mm

10mm

25mm

小曲率半径(凹,内置探头)

30mm

30mm

30mm

小测量面积

Φ 5mm

Φ 10mm

Φ 25mm

小基体厚度

0.3mm

40μ m

0.5mm

0.5mm

40μ m

1mm

连续模式下测量速度

每秒20个读数

单值模式下测量速度

每分钟70个读数

 

主机

MINITEST 720

MINITEST 730

MINITEST 740

探头类型

内置

外置

内置外置可换

数据记忆组数

10

10

100

存储数据量

多10, 000个

多10, 000个

多100, 000个

统计值

读值个数,小值,值,平均值,标准方差,变异系数,组统计值(标准设置/自由配置)

校准程序符合国际标准和规范

ISO,SSPC,瑞典标准,澳大利亚标准

校准模式

出厂设置校准,零点校准,2点校准,3点校准,使用者可调节补偿值

极限值监控

声,光报警提示超过极限

测量单位

um,mm,cm;mils,inch,thou

操作温度

-10℃-60℃

存放温度

-20℃-70℃

数据接口

IrDA 1.0(红外接口)

电源

2节AA电池

标准

DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376
AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2

体积

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

约175g

约210g

约175g(内置)/230g(外置)