YB-6500高分立器件测试系统能对市场上现有的分立器件都可测试。
　　
　　可测试器件种类
　　YB6500系统测试功能更加强大，可测试十九大类二十七分类大、中、小功率的半导体分立器件：
　　1.二极管：Diode
　　2.稳压（齐纳）二极管：Zener
　　3.晶体管：Transistor（NPN型／PNP型）
　　4.可控硅整流器（普通晶闸管）：SCR
　　5.双向可控硅（双向晶闸管）：TRIAC
　　6.MOS场效应管：Power　MOSFET（N-沟／P-沟）
　　7.结型场效应管：J-FET（N-沟／P-沟，耗尽型／增强型）
　　8.三端稳压器：REGULATOR（正电压／负电压，固定／可变）
　　9.绝缘栅双极大功率晶体管：IGBT（NPN型／PNP型）
　　10.光电耦合器：OPTO-COUPLER（NPN型／PNP型）
　　11.光电逻辑器件：OPTO-LOGIC
　　12.光电开关管：OPTO-SWITCH
　　13.达林顿阵列
　　14.固态过压保护器：SSOVP
　　15.硅触发开关：STS
　　16.继电器：RELAY（A、B、C型）
　　17.金属氧化物压变电阻：MOV
　　18.压变电阻：VARISTOR
　　19.双向触发二极管：DIAC
　　
　　1.上述所列类别包括各大、中、小功率半导体分立器件及其组成的阵列、组合、表贴器件。
　　2.测试方法符合GB/T　15651.2-2003标准、GB/T　15651.3-2003标准、GJB　128A-1997半导体分立器件试验标准。
　　3.提供上述各类器件测试所用的不同封装形式的测试夹具和测试适配器。
　　4.可以定做各种阵列、组合封装、表贴器件的测试夹具。
　　5.帮助用户开发各种器件的测试程序。