X-3600供应X荧光光谱仪仪,测硫仪
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1产品名称及机型指标介绍:

 

1.1.产品名称及型号:贵金属检测仪X-3600

 

1.2.制造商:天津市博智伟业科技有限公司

 

1.3.X-3600贵金属检测系统包括:X-3600贵金属检测仪一台,贵金属分析软件一套,密度分析软件一套。

 

1.4.仪器简介X-3600型贵金属检测仪是一种体现X射线荧光分析技术新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源,电制冷硅半导体探测器为探测单元,再加上我公司专门开发的应用软件,充分发挥各部件的优异性能,保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方,正是它大有作为之处。仪器检测能力强,分辨率高,适用于各行业对不同元素进行无损检测。在不同工作环境下分析范围从Al(13号元素)到U(92号元素)。无损分析迅速,无需制样,测试时间从几秒到几分钟可调。检测从PPM级别到千分之别。

 

1.5.产品图片

 

 

 

 

 

 

 

X-3600

 

1.6.工作条件

 

工作温度:15-30℃                           

 

相对湿度:≤70%                          

 

  源:AC: 220±5V                                    

 

1.7.技术性能及指标:

 

1.7.1.分析元素范围:从铝(13号元素)到铀(92号元素)

 

1.7.2.元素分析含量范围:1ppm到99.99%

 

1.7.3.测量时间30秒到180秒可调,一键式快速测量3.5秒可出结果    

 

1.7.4.元素同时分析能力:26种元素

 

1.7.5.测量样品型态:固体,粉末,液体

 

1.7.6.测量:以黄金样品为例,高含量样品(含量在75%以上)误差±0.1%,低含量样品(含量在75%以下)误差±0.3%

 

1.7.7.多次测量重复性:可达0.1

 

1.7.8.测量次数:任意可调,且在多次测量时可做平均值及标准偏差测量

 

1.7.9.探测器:美国AMPTEK原装进口Si-Pin探测器,探测面积6mm2分辨率149eV

 

1.7.10.X光管:W靶X光管,对金银铂钯等贵金属激发效率更高

 

1.7.11.高压电源:美国Spellman原装进口高压电源,功率50W,50kV,1mA

 

1.7.12.密度检测系统:密度检测仪及检测软件一套,可以对样品的密度进行准确分析鉴定,从而实现对未知样品内部材料的定性定量分析(本系统具有性

 

1.7.13.镀层检测:仪器可对不同基体上的不同金属镀层进行多层检测,并得出准确结果(使用者可以根据需求进行二次开发)

 

1.7.14.样品成像定位系统:内置自感光500万像素摄像头及先进的定位软件,方便样品的局部定位测量

 

1.7.15.定量分析方法:基本参数法,理论Alpha系数法,经验系数法,多元回归法等(国内同行业采取此类综合计算方法

 

1.7.16.定性分析方法:元素自动寻峰,Kl谱线标记法,峰谱比对法等

 

1.7.17.操作软件:开放的可供客户自行开发和升级的工作软件,真正实现零费用升级,使一机多能。

 

1.7.18.操作模式:一键式操作全电脑控制与人工选择测试方法两种测试模式,满足不同测试单位和测试人员的要求

 

1.7.19.银铜双峰位校准:银,铜双峰位同时校准,使仪器校准更加精准,随时修正工作曲线,使测量结果达到(同行业中采取此校准方法

 

1.7.20.峰位自调系统:当仪器峰位有所偏移时,软件可自动调试恢复仪器到正常测量状态(同行业中采取软件峰位自调系统

 

1.7.21.三重防辐射系统:更换样品时X光管自动切断电压电流;样品仓打开,X光管快门自动闭锁;仪器多层屏蔽舱盖,有效防止X射线外溢(同行业中采取三重防辐射系统)

 

1.7.22.温度控制系统:内部风冷水冷双循环冷却,限度降低X光管工作温度延长光管使用寿命,且保证仪器长时间工作稳定,测量准确

 

1.7.23.硬件结构:仪器双箱体结构,有效屏蔽干扰,增加仪器整体稳定性

 

1.7.24.超大样品仓:方便大型样品的检测

 

1.7.25.测试:测试根据客户要求独立设计

 

1.7.26.长期工作稳定性:为0.1%;

 

1.7.27.温度适应范围:为15℃30℃

 

1.7.28.工作电源:交流220±5V(建议配置交流净化稳压电源) 

 

2.仪器硬件部分主要配置

 

2.1        Si-PIN半导体探测器

 

技术指标及功能:   

 

2.1.1.生产厂商:美国Amptek公司

 

2.1.2探测器类型:电制冷Si-PIN

 

2.1.3探测面积:6mm2

 

2.1.4硅活化区厚度:300um

 

2.1.5探测器分辨率:对于55Fe,@5.9keV 对于12us的形成时间,半高宽为149eV

 

2.1.6探测器窗口:铍窗,25um厚

 

2.2   X光管

 

技术指标及功能:

 

2.2.1.低功率X射线管(W靶)

 

2.2.2.使用寿命7000-10000小时

 

2.2.3.产生X射线激发源

 

2.3高压电源

 

技术指标及功能:

 

2.3.1.生产厂商:美国Spellman公司

 

2.3.2.电压和电流从零至满量程连续可调:50KV,1mA

 

2.3.3.电压调整率:负载调整率:从空载到满载,电压变化为满量程0.01 %

 

2.3.4.线性调整率:对于规定的输入电压范围,该数值为满量程0.01%

 

2.3.5.电流调整率:负载调整率:从空载到满载,电流变化为满量程0.01%

 

线性调整率:对于规定的输入电流范围,该数值为满量程0.01%

 

2.3.6.稳定性:经过半小时预热后,每8小时变化不超0.05%

 

2.3.7.温度系数:温度变化一度,电压变化不超过0.01%

 

2.4   MCA多道分析器:

 

对采集来的信号进行数据处理,并将处理结果传输给计算机

 

2.5  高精密摄像头(CCD)   

 

试样观察并储存样本图像

 

2.6  超大样品腔     

 

样品腔尺寸(220mm×200mm×150mm

 

3.整机硬件技术规格:

 

3.1外型尺寸600mm×530mm×330mm

 

3.2可测试样品大小:关仓测量:220mm×200mm×150mm,开仓测量:无限大

 

3.3仪器重量50公斤

 

3.4工作环境温度:0——30℃

 

3.5工作环境相对湿度≤70%

 

3.6元素分析范围铝(Al)——铀(U)

 

3.7含量分析范围1PPM——99.99%

 

3.8测量时间:60秒到180秒可调,一键式快速测量3.5秒可出结果。

 

3.9激发源低功率X射线管(W靶)

 

3.10高压电源美国Spellman原装进口高压电源

 

3.11探测器美国Amptek原装进口电制冷Si-Pin半导体探测器

 

3.12仪器分辨率锰元素在5.89keV能量位置的峰,分辨率至少为180±10eV(完全符合中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会2008年12月31日发布2009年7月1日实施GB/T 新标准对X射线荧光光谱分析仪:锰元素在5.89keV能量位置的峰,分辨率至少为200eV标准要求)。

 

3.13多道分析器2048

 

3.14工作电源交流 220V 50Hz

 

4.仪器软件配置

 

软件功能:

 

软件可视频观察样品的放置

 

同时可分析20多种元素,分析时间短到30秒-120秒

 

可动进行定性分析,准确                      

 

可自动对仪器初始化校准

 

具有多种光谱拟合分析方法