用途：
　　采用白光相移显微干涉技术，测量光纤端面纳米级形貌参数：
　　？曲率半径（ROC）
　　？顶点偏移（Apex　Offset）
　　？光纤高度
　　？APC光纤连接器的研磨角度
　　？APC光纤连接器定位键的角度
　　
　　性能特点：
　　三次元非接触式相移干涉测量技术，高，速度快；
　　重复小于2nm
　　高性价比，操作简单，经济实用；
　　可定制测量格式；
　　适用于任何光纤连接器；
　　
　　技术参数：
　　重复性曲率半径（ROC）0.3mm
　　光纤高度（Fiber　Height）8nm
　　顶点偏移（Apex　Offset）2um
　　角度　0.02deg
　　稳定性曲率半径（ROC）0.5mm
　　光纤高度（Fiber　Height）12nm
　　顶点偏移（Apex　Offset）5um
　　角度　0.03deg
　　工作温度－10℃～30℃
　　物镜放大倍率　10X
　　分辨率　1um
　　光源波长　650nm
　　电源　1　2V　DC
　　尺寸长440　X宽225　X高175mm