台湾 ARCS 非接触影像量测系统
　　型号：KIM-2010U KIM-3020U
　　非接触影像量测系统是结合超高解析CCD，连续无段变焦单筒显微镜，玻璃式精密光学尺（较不受环境温度影响）及高线性平台所构造而成之高高效率光学精密量测仪器，可广泛运用在不同精密产业。
　　产品特色：
　　◆放大倍率：0.7X～4.5X（17.5X～112.5X）定倍式镜头
　　◆光源：可调式冷光源（表面光源＋轮廓光源）
　　◆光学尺：X.Y.Z轴（Z轴选配）解析度0.001mm
　　◆线性：X.Y轴±（3＋L／200）μm
　　◆重覆：X.Y轴 0.002mm
　　◆光学尺讯号传输方式：USB传输介面＋量测软体
　　◆测量基准：十字线
　　◆基座：高花岗岩平台
　　◆电源：AC110～230V，50／60Hz
　　◆选配软体：SI-101，SI-102
　　适用行业：
　　■半导体、PCB产品、TFT液晶莹幕（背光板）、冲床、电子
　　产品、油环、连接器、导线架、相机组件…等