●用X射线发生器激发--分析元素多（Na-U全部元素）。　　
　　●采用进口电致冷半导体探测器--分析高。　
　　●采用多道（2048）脉冲分析器--实现多元素同时分析。　
　　●采用稳谱技术保证了仪器在任何环境下工作状态的一致性--稳定性好。　　
　　●同时显示和观测谱线、多窗口工作、类型自动识别、自动解谱、自动给出测量结果--操作简单。
　　
　　●采用了先进的比值技术--分析结果准确。　
　　●采用了新测量模式--避免元素间相互干扰，分析结果可靠。　　
　　●可测量粉状、块状、液体状样品--制样简单、方式多样。　　
　　●国土资源部鉴定，评审结果：仪器总体性能处于国内水平，部分指标达到国际先进水平。
　　
　　●设计合理，稳定性好，故障率低，使用寿命长。　　
　　●无损检测，直接压饼物理分析，无需融样，不破坏贵重物品检测。　
　　●性价比高：分析成本低，整机价格不到进口设备的三分之一。
　　●多层屏蔽保护，辐射安全可靠（辐射剂量仅为15usv／h，国家要求＜25usv／h）。
　　●1999年取得了国家计量仪器生产许可证，被科技部列为“九五”国家科技成果重点推广项目，2003年授予“国家重点新产品”称号。
　　
　　技术指标：
　　1、能量色散型，Si（Li）探测器分辨率优于149ev。
　　2、分析元素范围Na～U，Mg、Al、Si、P、S、Ca、Ti、V、Fe、Mn、Pb、Zn、Sn、Sb、Au、Ag等。
　　3、可分析固体、液体、粉末等样品类型，不融样，直接测量。
　　4、探测器无需液氮制冷，运行及维护费用低。
　　5、温度适应范围-10～40度，湿度适应范围20％～80％。
　　6、测量范围：1ppm-99.99％。
　　
　　7、仪器稳定性好，8小时连续测定RSD≤0.25％。
　　8、重复性：小于0.1％
　　9、采用Windows操作系统和中文测量控制软件，人机界面友好，操作简单、维护方便。
　　10、测量时间：小于200秒
　　11、辐射剂量：小于25usv／h
　　12、电源：220V、50Hz；整机功耗小于250W。