美国BOWMAN（博曼）X-RAY膜厚测试仪无论是无标准片测量还是有标准片测量，都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置，X射线源和高分辨硅接收器置于了 XAN的底部，从而可以采用射线向上的测量技术。集成了含十字线、射线位置指示标志、光亮及位置调节的视频显微系统，将使得样品的放置和测量定位变得快捷而容易。现在您不再需要调节测量台或是样品台——只需放下样品即可开始测量。美国BOWMAN（博曼）X-RAY膜厚测试仪实用性:无数次的发明,包括使用DCM 自动对焦方法和透明的准值器，操作简单。不用调校X-射线管的距离也可测量，操作人员只需要调校样品焦距便可以测量。为客户创造的价值是金东霖追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图