UTX850B是一款多功能的X射线荧光光谱仪
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图文详情
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产品属性
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一、应用领域
UTX850B是一款多功能的X射线荧光光谱仪，适用于：
1、RoHS检测
欧盟RoHS指令规定所限制的Cr、Hg、Pb、Cd、Br、Cl、I等元素的检测
2、镀层检测
适合测试尺寸较大的五金、接插件、电气连接器电镀，PCB电镀，塑料、ABS、镁铝合金电镀。特别适合较薄的Au、Ag、Pd等贵重金属电镀。
五金、接插件、电气连接器电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP、SnPb合金、SnCu合金、ZnNi合金、AuPdNi合金等；
PCB电镀Au、Ag、Cu、Ni、NiP、SnPb合金等；
塑料、ABS、镁铝合金电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP等。
3、镀液分析
电镀液中Au、Ag、Cu、Ni、Cr、Zn、Sn的浓度检测，以及杂质元素Ag、Cu、Ni、Cr、Zn、Sn、Fe、Co、Mn、Sb等分析。
4、合金材料分析
不锈钢中的Fe、Cr、Ni、Mo等成分
合金钢中的Fe、Ti、V、Cr、Mn、Co、Ni、Cu、Zn、Nb、Mo、Sn、Sb、W、Pb等成分
铜合金中的Cu、Zn、Fe、Cr、Ni、Cu、Zn、、Sn、Sb、W、Pb等成分
锌合金中的Zn、Cu、Fe、Cr、Mn、Ni、Cu、Zn、、Sn、Sb、W、Pb等成分
焊锡中的Sn、Fe、V、Cr、Ni、Cu、Zn、Nb、Sb、W、Pb等成分
5、贵重金属鉴别
黄金饰品的纯度检测以及杂质Ag、Ni、Cu、Zn、Cd、Y、Zr、Rh、Pd等分析
铂金饰品的纯度检测以及杂质Ag、Ni、Cu、Zn、Cd、Y、Zr、Rh、Pd、Au等分析
钯金饰品的纯度检测以及杂质Ag、Ni、Cu、Zn、Cd、Y、Zr等分析
银饰品的纯度检测以及杂质Fe、Ni、Cu、Zn、Cd、Sn等分析
6、食品及安全检测
日常食品中微量元素Fe、Ca、Zn、Cu、Pb、Cd、Ni等分析
各种补品中有效成分分析如补Ca口服液的Ca含量，补Zn口服液的Zn含量等
茶叶辨别：根据不同产地茶叶中微量元素不同，辨别茶叶种类和真伪
7、环境检测
汽油、柴油、煤油等中的含Pb、As、Cd等元素的检测
水质分析，分析河水、湖水、污水、地下水、饮用水中的Fe、Ti、V、Cr、Mn、Co、Ni、Cu、Zn、Nb、Mo、Sn、Sb、W、Pb、Hg、Cd等元素
二、产品特点
1、从Al到U的快速元素分析、金属镀层厚度检测
2、检测灵敏度1ppm到99.99%；镀层0.005um到35um
3、15-20倍彩色CCD系统用于样品图像观察
4、有多种形状和多种规格的准直器可供选用
5、多种滤光机制、多种规格滤光片针对不同样品
6、高分辨率SIPIN探测器，提高测量灵敏度
7、探测器电制冷，无需液氮
8、超大样品仓配合精密调节电动样品台，可以测量特大到特小的各种尺寸样品
9、FP基本算法软件
10、灵活的应用分析软件
11、仪器安装简单、快速
三、技术指标
测定原理 | 能量色散型X射线荧光分析法 |
测定对象 | 固体、液体、粉状 |
测量功能 | RoHS检测、卤素检测(Cl、Br、I、Br)，定性和定量 |
单镀层、合金镀层、多镀层测厚、多可测3层 | |
元素分析(材料成份分析) | |
镀液分析(电镀药水主盐成份分析) | |
测量极限 | 镀层厚度：0.01 um，元素分析：2ppm，RoHS限2ppm |
厚度测量范围 | 0.01-35 um，(W、Au、Pb)10um、(Cu、Zn、Ni、)35um， |
厚度测量误差 | 层小于±3%，第二层小于±8%，第三层小于±12% |
元素分析测量范围 | 可测元素Al13-U92， |
RoHS测试范围 | 2ppm-99.99% |
RoHS测试精密度 | 相对标准差5%以下（含量大于500 ppm） |
RoHS测试准确度 | 相对误差5%以下（含量大于500 ppm） |
测试时间 | 测厚：10-60s，元素分析：10-60s，RoHS检测：200s |
高压发生器 | |
高压包产地及品牌 | 美国（SPELLMAN） |
输入电压 | 24VDC±10% |
输出电压 | 0-50kV |
输出电流 | 0-2.0mA |
输出 | 0.01% |
备注 | 有自动软件侦测功能 |
X射线管 | |
X光管产地及品牌 | 美国（OXFORD） |
X射线管靶材 | W靶、Rh、Mo、Ag、Cr靶材可选 |
X射线管窗口 | Be窗 |
电气参数 | 50W、4-50kV，0-1000uA |
冷确方式 | 硅脂冷却 |
使用寿命 | h |
探测器 | |
探测器产地及品牌 | 美国（AMPTEK） |
检测范围 | Al13-U92 |
分辨率 | FWHM达139eV |
探测窗口 | 铍窗，窗口面积：5-25mm2 |
厚度 | 0.5-5mm |
冷确方式 | 电制冷 |
RoHS测量指标 | |
分析范围 | 1ppm—99.99% |
精密度 | 相对标准差5%以下（含量大于500ppm时） |
准确度 | 相对误差5%以下（含量大于500ppm时） |
镀层测厚指标 | |
分析范围 | 0.01um—35um |
层 | 相对标准差3%以下（厚度大于0.5um时） |
第二层 | 相对标准差8%以下（厚度大于0.5um时） |
第三层 | 相对标准差12%以下（厚度大于0.5um时） |
谱处理系统 | |
处理器类型 | 全数字化32-bit3 DSP |
谱通道数 | 256，512，1024，2048可供选择 |
计数率 | 大于100000cps |
能量范围 | 500eV-40960eV |
死时间 | <3% |
光路系统和样品观测 | |
准直器系统 | φ8mm*3 φ0.5mmφ2mm 5位可切换 |
对焦系统 | 激光激光对焦 |
滤光器 | 多种滤光器(Ni、Cu、Mo、Al、Ti)可供选择 |
样品观察系统 | 300万象素高清CCD摄像头，20倍光学变焦。 |
样品室 | |
样品室内部空间（mm） | （宽×高×深）：450×90×400mm |
样品台尺寸 | （宽×深）：250×275mm |
样品台承载重量 | ≤5kg |
试验样品尺寸 | 宽×高×深：440×80×390mm。 |
样品台控制方式 | 高精密自动样品台 |
工作台移动技术数据 | X=200±5、Y=200±5、Z=80±5mm |
工作台移动 | 0.005mm |
计算机和软件 | |
控制计算机 | 联想品牌机M7150，1G内存，160G硬盘 |
显示器 | 联想17寸LCD显示器 |
操作系统 | WindowsXP、OEM简体中文版 |
结果 | Word、Excel格式 |
软件 | RoHS检测软件、镀层测厚软件、元素分析软件 |
软件类型 | FP基本参数法软件 |
软件语言 | 简体中文、繁体中文、英文、其它 |
谱显示 | 自动峰定性，KLM标记，谱重迭比较 |
谱处理 | 总强度，净强度，背景强度；全面积，净面积，多元素拟合，高斯拟合；对数谱 |
资料分析 | 基本参数，基本谱图，无标样测试，峰位修正，底材修正 |
重量和尺寸 | |
设备主体尺寸（mm） | 宽×高×深：W 580×H 635×D 770mm |
主体重量 | 约80kg |
使用环境 | |
工作环境 | 温度15-250C，湿度40-70%RH，温差变化+10C |
电源系统 | 单相220V±10%，工作电压在充许范围内 |
其它 |
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