用 途
•在光学冷加工中用于检验球面和非球面的质量
•测定光学件或光学系统的像差，如球差、像散等
•测定凹球面的曲率半径
•检验光学材料中的缺陷，如条纹，不均匀性等
•光学系统的检验和装配，用它检验各种非球面及大口径的球面和平面
   

技 术 指 标
•相对孔径：D/F=1：2
•小孔直径：0.03，0.06，0.08，0.2，0.5，1mm
•狭 缝 宽：0.05，0.15mm
•仪器重量：2KG
•粗调升降：70mm
•微调升降：15mm
•移 动 量：纵向横向各15mm
•读 书 值：0.01mm