三维表面形貌仪,光学轮廓仪,形貌仪
价格:电议
地区:北京市
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手 机:15652958313
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产品特性:

1,采用白光共聚焦色差技术,可获得纳米级的分辨率

2,测量具有非破坏性,测量速度快,度高

3,测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)

4,尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面

5,不受样品反射率的影响

6,不受环境光的影响

7,测量简单,样品无需特殊处理

8Z方向,测量范围大:为27mm

主要技术参数:

1,扫描范围:25×25mm

2 扫描步长:0.1μm

3,扫描速度:20mm/s

4 Z方向测量范围:27mm

4 Z方向测量分辨率:3nm

产品应用:

MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶瓷和先进材料的研发

品牌/商标

NANOVEA

企业类型

贸易商

新旧程度

全新

原产地

USA