温度冲击试验箱

型号：BYR系列

产品简介：温度冲击试验箱广泛用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的组件，可作为其产品改进的依据或参考。

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一、温度冲击试验箱结构特点

1、箱体内外部材质采用不锈钢板(SUS#304),外部材质有种不同外箱材质可供选择

2、运转中状态显示及曲线显示,发生异常状况时,屏幕上即刻自动显示故障点及原因和提供排除故障的方法,并于发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置

3、先进科学的空气流通循环设计，使室内温度均匀，避免任何死角;完备的安全保护装置，避免了任何可能发生安全隐患，保证设备的长期可靠性

4、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能，具备高低温试验机的功能。

二、温度冲击试验箱试验满足标准

1.GB/T10592-1989高低温试验箱技术条件.

2.GB/T2421-1991《电工电子产品基本环境试验规程总则》.

3.GB/T2423.21-1991《电工电子产品基本环境试验规程试验M:低气压试验方法》.

4.GB/T2423.25-1992《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM:低温/低气压综合试验方法》.

三、温度冲击试验箱安全保护

1、超温保护装置；

2、压缩机过热保护开关；

3、压缩机高低压保护开关；

4、气源低压保护开关；

5、压缩机过电流保护开关，

四、温度冲击试验箱技术参数

5. 性能指標
环境条件 5.2 测试方法	环境温度： +5℃～+30℃ 相对湿度≤85%RH 试验箱内无试样条件下 GB/T5170.2-2008 温度试验设备
5.3.高温室
5.3.1预热温度范围	+60℃～+200℃
5.3.2.升温时间	+60℃→+200℃ ≤25min 注：升温时间为高温室单独运转时的性能
5.4.低温室
5.4.1预冷温度范围	-65℃ ～ -10℃
5.4.2降温时间	+20℃ → -55℃≤55 min 注：降温时间为低温室单独运转时的性能
5.5.试验室（试样区）
5.5.1. 试验方式	气动风门切换2温区或3温区，风速调节
5.5.2.RAMP应力筛选	+125℃～ -40℃ 溫變率：5～30℃/MIN +60℃～ -40℃ 溫變率：5～40℃/MIN 【+60℃～0℃之間溫度範圍，是無法做執行設定衝擊及RAMP功能】
5.5.3温度冲击范围	（+60～+125）℃/（-40～-10）℃
5.5.4温度波动度	±0.5℃
5.5.5温度偏差	±2.0℃
5.5.6温度恢复时间	≤5min

五、温度冲击试验箱厂家售后服务

1、设备送货上门、安装调试、代培操作人员(直到对方满意为止)
2、设备保修一年，享受终身服务，非保修期适当收取材料成本费
3、详细规格以相应规格书为准.特殊规格可定做。(欢迎致电洽谈)