详细介绍
　　GWB−200JA型引伸计标定仪，是一种纯机械式的高位移测微仪器。依据JJG762−92引伸计检定规程要求，专门用于对各类引伸计的标定，也广泛用于位移传感器的检定及相应百分表、千分表的检定。
　　结构特点及读数方式
　　1、本仪器由精密微分测头及测量支架组成。该标定仪是积木式结构设计。将精密微分测头及支臂以多种方式或位置组合，同时配有加长立柱附件，配有圆柱、板、刀片等多种形式的分离试样，可以方便地进行多种规格型号引伸计的计量标定。用户还可以根据自己的测试特殊需要，配置专用配件进行精密微变形量计量。
　　
　　2、精密微分测头由滑动量杆、量杆套筒、读数内
　　筒、读数外筒及高精密螺纹付组成。其量程25㎜；
　　小分度（游标分度）0.0002㎜；旋转外筒分度0.002㎜。
　　位移变化读数为：
　　L＝（a＋0.001b＋0.0001c）-（a0＋0.001b0＋0.001c0）
　　其中：a−内筒毫米刻线读数
　　b−外筒刻线读数
　　c−游标刻线读数
　　a0 b0 c0为相应位移变化前读数
　　
　　精密微分筒
　　二、各项技术指标
　　1、测量引伸计标距范围Lmax 500㎜
　　2、测量支座上支臂安装孔径φ10；φ28
　　3、微分测头读数内筒轴向刻度 0.5㎜/格
　　4、微分测头读数内筒游标刻度 0.0002㎜/格
　　5、微分测头读数外筒园周刻度 0.002㎜/格
　　6、高精密微分测头指标
　　标定仪示值误差：
　　量程0.5㎜以内≤0.5μm 误差
　　量程0.5㎜以上≤0.10%逐点相对误差
　　参照标准：
　　JJF1096-2002引伸计标定器校准规范
　　ISO9513：1999金属材料单轴试验用引伸计标定
　　JJG762-1992引伸计检定规程
　　可进行0.5级引伸计的标定